量产导入 | Tessent Scan 和 ATPG

已于 2024-06-13 15:19:05 修改
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分类专栏： 数字IC 文章标签： fpga开发 芯片 DFT ATPG 量产 人工智能
于 2024-06-12 21:42:26 首次发布
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版权
本文详细介绍了如何使用Tessent Scan工具进行扫描链的配置、测试逻辑插入、DFT库创建及ATPG设置，包括设置扫描单元映射、输入约束、时钟定义、扫描链平衡等关键步骤，旨在实现芯片的量产导入。
摘要由CSDN通过智能技术生成

目标

Upon completion of this module, you should be able to:

Use Tessent Scan to insert full scan.
Write a scan-inserted netlist file.
Write ATPG setup files.
lnsert test logic.
Create, configure, and balance scan chains.
Edit a scan chain order file and change the order of the scan cells.

完成这个模块后，您应该能够：

  • 使用Tessent Scan插入完整的扫描。
  • 编写插入扫描的网表文件。
  • 编写ATPG设置文件。
  • 插入测试逻辑。
  • 创建、配置和平衡扫描链。
  • 编辑扫描链顺序文件并更改扫描单元的顺序。

Tessent Scan Tool Flow: An Overview

DFT、Sim的library都是生产厂商提供
不同的fau

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量产导入 | SCAN和ATPG
叫好与叫座虽然不是对立面，但想在同一个作品中达到双重效果很难。
06-11 681
嵌入式多重检测（Embedded Multi-Detect，EMD）在故障分级期间向测试立方中添加关注位（care bits），以尝试检测检测次数较少的故障。拥有了学习卡，不仅可以快速掌握芯片设计的基础通识，还能判断自己是不是适合做芯片设计的工作，单门课程花几天的时间就可以学完，极大提升学习效率！课程以IC设计公司岗位需求为导向，设立6大方向：设计，验证，后端，DFT，模拟设计，版图！故障激活是在故障模型的位置建立一个与故障模型产生的值相反的信号值。网表阶段是左边的，插入DFT后需要替换成右边的。
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第六章：Internal Scan and Test Circuitry Insertion
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