ICT 数字测试原理 6 - -VCL 测试结构

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于 2025-10-05 23:23:31 首次发布

ICT 数字测试原理 6 - -VCL 测试结构

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VCL 测试结构

一个 VCL 测试由四个部分组成，如表 2-2 所述：

各部分必须按所列顺序排列。每个部分都有其自己的语句集。如果测试使用图 1-2 所示的标准向量时序，并且没有可变的时序要求，则不需要时序部分。时序部分在“使用 VCL 进行高级测试”中与其他高级测试主题一起描述。

表 2-2

VCL 测试的部分

部分 描述
声明部分 声明测试类型、所需的系统资源、设备类型及其属性。所有库测试必须至少包含这一部分，以便数字程序生成器能够分配系统资源并为夹具做出适当的引脚分配。查看编写声明部分。
时序部分 定义任何特殊的测试时序。在 Mux 系统中，仅在需要可变时序组合的测试中使用时序部分。如果您使用时序组合，请勿在声明部分中指定向量时序。查看使用 VCL 进行高级测试。
向量定义部分 定义用于测试设备的向量。使用特殊的定义部分能够有效生成复杂向量。例如，如果您从 CAD 系统下载向量，您将使用 PCF（模式捕获格式）向量。在“使用 VCL 进行高级测试”中全面讨论的 PCF 向量将向量定义和执行功能结合在一起，必须位于测试的向量执行部分。如果测试中的所有向量都是 PCF 向量，则不需要向量定义部分。请参见编写向量定义部分。
向量执行部分 包含任何 PCF 向量，以及执行前面部分定义的向量的指令。该部分由一个或多个数字单元和（可选的）数字子程序组成；如果有子程序，必须位于数字单元之前。请参阅编写向量执行部分。

编写声明部分

声明部分中的信息用于设置测试环境并描述设备。这些信息被数字程序生成器用于资源分配。请参阅仅设置测试。

  1. 声明测试类型。

使用 combinatorial 或 sequential 语句。参见建立环境。

  1. 指定处理器。

使用 processor 语句。默认值为 vpu。

  1. 生成调试数据文件。

如果需要，使用 generate debug 语句和将用户向量映射到机器向量的文件（generate map 语句）。

  1. 指定要传递给测试的任何变量的 VCL 名称。

使用 test digital 语句。参见在testplan和数字测试之间传递数据。

  1. 将设备引脚分配到组。

使用 assign to 语句并指定任何默认状态。参见在向量中分配资源和默认状态。

  1. 对组进行分类。

使用 inputs、inputs formatted clock、outputs、bidirectional、power、nondigital、use cards on、fixed 和 wait line 语句。参见分配资源。

  1. 指定向量中引脚状态的格式。

使用 format 语句。参见表 2-6。

  1. 声明外部源向量的引脚顺序。

使用 pcf order is 语句。参见使用 VCL 进行高级测试。

  1. 指定所需的驱动和接收特性。

使用 family、set load 和 set ref 语句。参见测试参数。

  1. 指定向量时序。

使用 vector cycle 和 receive delay 语句。参见向量时序。如果测试要与外部时钟同步，请参阅时钟同步。如果要使用时序组合（在 Mux 系统上），请参见编写向量定义部分。

  1. 为 SAFEGUARD 安全分析例程提供可选数据。

这仅适用于库测试。使用 outputs limited to 语句。

  1. 指定等待线上的状态。

要触发硬件等待的终止，请使用 wait terminated when 语句。

  1. 提供禁用信息。

这仅适用于库测试。

a. 为具有可总线输出或双向引脚的设备提供禁用信息。

b. 为可能需要禁用或在其用作被测设备上游使用时需要处理的部件提供禁用和处理信息。

使用 disable with、condition with 和 unit disable method 语句。

编写向量定义部分

定义各个向量。每个向量必须在自己的代码块中，由向量和结束向量语句界定。你可以使用初始化语句作为输入辅助工具来定义相似的向量。如果你在编写新的测试用例，请同时开发此部分和向量执行部分，而不是先定义所有向量然后再书写所有向量执行语句。

请参考向量定义部分以获取关于向量的完整信息。

如果测试仅使用PCF向量（参见使用VCL进行高级测试），则不需要向量定义部分。

编写向量执行部分

向量执行部分根据前面部分定义的资源和向量，以及本部分中的任何PCF向量来控制测试的流程。按照正确的顺序安排语句以执行向量，并在需要时合并PCF向量。

  1. 编写子程序。

子程序可以包含任何顺序的向量执行语句、自归环路、重复环路以及对其他子程序的调用。请参阅数字子程序。

  1. 编写数字单元。

所有向量执行语句和对子程序的调用必须位于数字单元中，由单元和结束单元语句界定。请参阅数字单元。

  1. 为组合器件编写库测试。

组合器件的库测试只需要一个单元。然而，它可以有多个。

序列器件的库测试可能需要分段为更小的单元，以避免拓扑冲突。请参阅解决拓扑冲突。

  1. 定义自归环路。

使用自归环路使设备从未知状态转变为特定的已知状态，以便可以进行实际测试。请参阅自归环路。

  1. 定义CRC。

在进行大型测试时，如果预测所有

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VCL（Voltage-Current-Load）测试结构是ICT（In-circuit Test）数字测试中的一种关键技术，主要用于验证电路板上的电压、电流和负载特性。该测试结构通过施加特定电压信号，测量电流响应，从而判断被测器件（DUT）的功能是否正常。VCL 测试的核心在于负载模拟和信号采样。测试过程中，电压源向被测电路施加激励信号，同时电流传感器实时监测电流变化。通过比较实测值与预期值，可以快速定位开路、短路或参数漂移等故障。VCL 测试通常依赖专用测试仪器或自动化测试设备（ATE）。
ICT 数字测试原理 7 - -VCL 测试环境
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当调试VCL测试时（详见《调试数字测试》），有时需要将向量按执行顺序的编号与VCL测试中定义顺序的向量编号进行关联。要在VCL测试中使用的变量，必须从BT-Basictestplan传递到测试中。测试中要使用的变量名称通过执行VCL测试的测试语句从testplan传递。同样地，如果VCL测试在变量中保存了值，这些变量在VCL测试退出后保留其新值，并且可以被testplan访问。如果默认设置为no，可以通过编译语句中的debug选项或测试中的generate debug语句为单个VCL测试覆盖默认设置。
ICT 数字测试原理 16 - -VCL中通用测试方法
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在编译VCL测试之前，测试中的向量（以及定时集合，如果有）会自动转换为机器向量，这些机器向量不一定与测试中定义的用户向量相同。include语句可以在可执行的VCL测试中的任何位置使用，以在测试中的该点包含存储在另一个文件中的VCL语句。然而，由于每个混合测试的模拟部分和数字部分都有单独的源文件，你必须在其自身的目录下保存库测试，如下所示。在实践中，当执行单元禁用测试时，一旦任何向量失败，则假定设备已被禁用，测试会自动退出该单元——要么进入下一个单元，要么如果没有更多的单元，以正常方式退出测试。
ICT 数字测试原理 5 - -VCL 简介
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矢量控制语言 (Vector Control Language ) 是一种易于使用、结构良好且功能多样的语言，旨在简化测试开发者的工作。VCL 测试可以编写为在线测试单个设备或测试一组设备；后者也称为节点库测试。在您继续阅读本章之前，我们建议您查看本章末尾的示例。这将使您对语句及 VCL 测试的结构有一些熟悉。VCL 测试将一系列向量应用于被测设备，并将设备的实际响应与预期响应进行比较。根据响应，测试将结果返回给testplan，然后testplan声明设备通过或未通过该测试。
ICT 数字测试原理 14 - -VCL 数据捕获
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10-09 924
数据捕获可以是串行或并行的。在串行数据捕获中，你应用一组向量并从单个节点捕获状态（位）。状态被捕获在模块控制卡上的串行捕获 RAM 中。可以捕获的位数取决于系统中 RAM 的大小。UnMux 系统中较大的 RAM 大小使你可以捕获多达256k的串行位。并行捕获 RAM 的结构与串行 RAM 不同。并行 RAM 深度为128位，实际上与数字测试中要捕获的节点数一样宽。这使你可以一次从两个或多个节点捕获128个向量的数据，并可以选择这些节点。捕获的向量不一定是连续的：可以选择捕获向量块或单个向量。
ICT 数字测试原理 23 - -使用VCL进行高级测试1
可可南木的博客
10-15 396
声明向量定义向量执行高级测试软件增加了一个部分，即时序部分。声明时序向量定义向量执行声明、向量定义和向量执行部分与之前相同，只是现在与它们关联的语句更多。时序部分包含控制测试信号时序的语句。以下部分描述如何使用高级功能编写VCL测试，列出了VCL语句并将语句与本章中的主题交叉引用。VCL测试部分VCL语句。
ICT 数字测试原理 20 - -VCL中预处理的过程
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10-12 1158
在两个disable with语句中，hold参数指定了“保持引脚”：即，在测试期间必须保持在某个状态以维持设备禁用状态的引脚。继续以图2-12中显示的ASIC示例为基础，以下语句假定ASIC是板上的U23，并且连接到U23的节点根据引脚编号命名（例如，U23-3）。编号对应于设备被禁用的顺序。当i3070电路测试软件生成一个需要禁用ASIC的可执行测试时，它使用单元禁用方法中的数据来执行实际的禁用操作。如果预处理向量随后被放置在使用定时设置的可执行测试中，那么这些向量引用的是该测试中的默认定时设置。
ICT 数字测试原理 21 - -VCL中的板级预处理
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10-13 1085
在某些情况下，如果一个引脚的预处理方法与先前引脚选择的方法冲突，i3070电路测试软件会返回到那个先前的引脚并选择不同的方法；因此，如果您更改一个引脚的预处理方法或添加新引脚，可能会完全改变软件的引脚顺序和选择的预处理方法。理想情况下，每个测试只需要一种预处理方法，尽可能少的输入，并且能够预处理尽可能多的引脚。您可以通过减少上游预处理的级别数量，或为尽可能多的设备关闭上游预处理来减少需要预处理的引脚数量m。和以前一样，软件在可执行测试中放置的语句取决于设备库测试中的数据和设定的选项（例如，多层预处理）。
ICT 数字测试原理 12 - -VCL 向量如何执行之循环
可可南木的博客
10-08 1188
如果未出现enable loop counter语句，则循环的行为类似于上面描述的计数循环，并在设备未归位时继续执行直到测试超时。归位循环包含了一组向量执行语句，这些语句如果被应用足够次数，保证将设备带到某个恒定的、已知的状态，而不论设备的初始状态如何。计数和非计数循环是相同的，区别在于计数循环具有一个 times 参数，表示循环预计执行的最大次数。程序继续执行循环中的语句。为了使测试在归位循环的退出条件在指定次数的循环内未满足时失败，你必须在测试的声明部分使用enable loop counter语句。
ICT 数字测试原理 8 - -VCL 的测试参数
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如果你可以在 outputs limited to 语句中指定更少的输出同时为高（低），那么设备可以被安全地过驱更长的时间，从而使安全例程能够放宽测试的时间限制。作为经验法则，对于大的负载（如TTL），使用较高的值，而对于小的负载（如CMOS），使用较低的值。接收器高电压是一个阈值电平。例如，由于CMOS家族的默认负载为none，示例2-9中的语句仅连接了一个引脚的负载。例如，如果在上述语句之后放置 “set terminators to on” 语句，则将连接 U68 的引脚 11 和 13 的终端。
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