ICT 数字测试原理 14 - -VCL 数据捕获

最新推荐文章于 2025-11-06 20:29:20 发布

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ICT 数字测试原理 14 - -VCL 数据捕获

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ICT 数字测试原理 14 - -VCL 数据捕获

数据捕获

数据捕获用于从一组向量中捕获状态，将它们保存在数组中，并将数组传递给testplan，以便在BT-Basic中进行处理。数据捕获使你能够进行多种不同类型的测试：

读取电路板上的微处理器中包含的序列号或版本号，读取ROM的内容，或者评估模数转换器。
仅限多路复用系统：除了读取两级数据流（高或低），还可以读取三级流，如ISDN交替标记反转（AMI）编码，其中正脉冲和负脉冲都表示1，缺少脉冲表示0（参见示例2-23）。
进行上升时间和下降时间测量。

根据你要捕获的数据类型，数据捕获使用串行捕获RAM或并行捕获RAM。其他一些软件功能也使用这些RAM。因此，如果你在同一数字（VCL）测试中使用了这些功能，则无法使用串行数据捕获：

边界扫描
如果你在同一数字测试中使用数字调试，则无法使用并行数据捕获。

什么是数据捕获？

数据捕获可以是串行或并行的。在串行数据捕获中，你应用一组向量并从单个节点捕获状态（位）。状态被捕获在模块控制卡上的串行捕获 RAM 中。可以捕获的位数取决于系统中 RAM 的大小。UnMux 系统中较大的 RAM 大小使你可以捕获多达256k的串行位。

并行捕获 RAM 的结构与串行 RAM 不同。并行 RAM 深度为128位，实际上与数字测试中要捕获的节点数一样宽。这使你可以一次从两个或多个节点捕获128个向量的数据，并可以选择这些节点。捕获的向量不一定是连续的：可以选择捕获向量块或单个向量。如果需要捕获超过128个向量，只需从 RAM 中提取数据到数值数组并继续捕获——新数据将覆盖 RAM 中的现有数据。

与数据捕获相关的 VCL 语句有：

capture—pack
capture — 作为向量执行语句的辅助关键词
capture/end capture
fetch
test digital

示例2-23展示了一个简单的VCL测试，说明如何在数字测试中使用数据捕获语句。由于只需从一个引脚捕获数据，因此此测试自动使用串行捕获。注意，并不是所有的向量都需要被捕获。另外注意，捕获向量必须将被捕获的引脚设置为X状态，以便它不能导致测试失败。在向量中未列出的接收引脚总是进入其默认状态。如果未分配其他默认状态，则默认自动为X。但是，如果你明确分配默认值，可以帮助记录测试。

示例2-23

test digital; Q(*)     ! 捕获的数据被转移到数组 "Q"

   assign In to pins 1

   assign Out to pins 2 default "X"

     . . .

   inputs In

   outputs Out

   capture Out         ! 指定要捕获的引脚

     . . .

   ! 向量定义部分

   vector In_1

     set In to "1"     ! 将 Out 默认为 "X"，以便无法导致测试失败

   end vector

   vector In_0

     set In to "0"     ! 将 Out 默认为 "X"，以便无法导致测试失败

   end vector

   vector Test_Out

     set In to "0"

     set Out to "1"

   end vector

   ! 向量执行部分

   unit "Capture"

     execute In_0

     capture              ! 打开捕获

        execute In_1

        execute In_0

     end capture          ! 关闭捕获

     fetch Q(*)           ! 将捕获的状态保存到数组 "Q"

     execute Test_Out

   end unit

从示例中，你可以看到捕获过程中的四个步骤：