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一、简介
随着集成电路的规模不断扩大,1149.1的板级测试无法满足要求越来越高的芯片测试需求。芯片规模变大后,测试需求不在是一次测试整片芯片,而是芯片分为好几个区域去测试,而1500协议正是对1149.1在该方面的一个补充:即1149.1主要测试板级间的互连,而1500用来测试芯片内不同core之间的互连。IEEE Std 1500已经为包含不同模块的集成电路(ICs)开发了一种可测试性设计标准方法。
二、访问端口与基本结构
IEEE 1500架构的设计与IEEE 1149.1测试访问端口(TAP)控制器的接口兼容。实际上,1500的访问端口可以与IEEE 1149.1 TAP控制器的控制输出相对应。如下图所示,1500的访问端口由1149.1 TAP控制的控制输出相对应,TAP控制器产生的ShiftEn/CaptureEn/UpdateEn对应到1500就是ShiftWR/CaptureWR/UpdateWR,时钟源共用1149.1的TCK(WRCK),reset同样共用1149.1的TRSTN(WRSTN)。不同是1149.1需要一个IR指令生成1500的SelectWIR,当SelectWIR有效时&
本文详细介绍了IEEE 1500协议,作为对1149.1协议的补充,用于测试集成电路中不同核心间的互连。文章阐述了1500协议的访问端口结构,与1149.1 TAP控制器的兼容性,以及在芯片系统应用中的优势,如简化布线,优化时序和扩展更多寄存器等。
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