【JTAG】IJTAG vs JTAG vs IEEE1500 ECT

已于 2023-01-03 21:40:57 修改
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分类专栏： JTAG 文章标签： 单片机 嵌入式硬件
于 2023-01-03 21:31:40 首次发布
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版权

目录

一、简介

二、开发目的

三、标准之间的差异性

四、硬件架构差异对比

一、简介

        本文主要了解IEEE1149.1、IEEE1500 ECT（Embedded Core Test）以及IEEE1687 IJTAG标准的最初开发的目标，将描述每个标准的优缺点以及使用场景。

二、开发目的

        IEEE1149.1最初的开发目标是提供一种更有效的电路板测试，以验证电路板（PCB）上芯片之间的连通性。早期由于新的芯片封装技术，如表面贴装球栅阵列（BGA），使得芯片上的引脚无法使用基于探针的验证、测试和调试方法，因为引脚隐藏在PCB下。为了应对这种情况，符合1149.1标准的芯片增加了边界扫描测试方法，从而消除了探针访问的需要。 

        IEEE1500 ECT标准2005年被提出，该标准开发目标旨在解决芯片内集成越来越多IP核自测试以及边界验证需求。目前，一个典型的SOC（system-on-chip）内包含了超过100个IP核。

        IEEE1687内嵌控制器(IJTAG)标准的开发始于2005年，当时芯片内嵌入式仪器的数量和类型开始急剧增加。芯片设计人员发现，内嵌控制器是测试、验证和调试集成电路的最具成本效益和效率的手段之一。(使用硅上的特性比使用外部设备(如价值数百万美元的ATE系统)更具成本效益。)此外，芯片内嵌控制器的功能也应用于其他应用，包括电路板的调试、验证和测试。

三、标准之间的

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