一. 概述
故障发生地 | 型号 | 器件批次号 |
测试 | ADF4360-7BCPZ | DC1424 DC1423
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故障信息: | ||
失锁 |
二. 结论
芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁,为设计上的问题。
三. 分析过程
3.1 失效确认
把器件换到正常的PLL板上测试发现PLL无法锁定,ADF4360输出频率不对,且输出相噪很差的信号。
把失效器件更换到评估板上测试,改变评估板软件的输出频率,ADF4360-7输出频率(423MHz)不变,且输出相噪很差的信号。测试ADF4360-7 Vturn电压只有几十mV。
更改配置软件的Core Power Current(改小)电流及RF Output power(改小)能使输出恢复正常。
3.2外观检查
1)外观检查,没有发现外观损坏情况。
3.3 X-Ray检查
1)X-RAY检查无异常。
3.4 管脚电阻测试
管脚电阻测试正常芯片与失效芯片对比无异常。
| 管脚 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 |
GOOD | 正向 | 58.3 | 14.2M | 0.7 | OPEN | OPEN | OPEN | 5.3M | 0.8 | OPEN | OPEN | 0.8 | OPEN |
| 反向 | 60 | 3.9M | 0.7 | 6.6M | 6.7,M | 2.0M | 2.4M | 0.8 | OPEN | OPEN | 0.8 | 2.2M |
FAIL | 正向 | 60.7 | 14.6M | 0.7 | OPEN | OPEN | OPEN | 5.9M | 0.9 | OPEN | OPEN | 0.9 | OPEN |
| 反向 | 61.3 | 3.9M | 0.8 | 6.7M | 6.7M | 2.1M | 2.56M | 0.8 | OPEN | OPEN | 0.9 | 2.27M |
| 管脚 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | 22 | 23 | 24 |
GOOD | 正向 | OPEN | OPEN | 24.2 | OPEN | OPEN | OPEN | OPEN | 6.7M | 73M | 0.9 | OPEN | 40M |
| 反向 | 2.4M | 2.0M | 24.5 | 2.4M | 2.49M | 2.48M | 2.47M | 2.48M | 4.0M | 0.9 | 2.4M | 2.47M |
FAIL | 正向 | OPEN | OPEN | 24.9 | OPEN | OPEN | OPEN | OPEN | 7.3M | 92M | 0.9 | OPEM | 45M |
| 反向 | 2.53M | 2.14M | 25 | 2.55M | 2.56M | 2.57M | 2.58M | 2.58M | 4.0M | 0.9 | 2.57 | 2.55M |
3.5 管脚IV特性曲线测试
管脚IV特性曲线测试正常芯片与失效芯片对比无异常。
3.6 DECAP
开封1 PCS失效样品与正常样品,开封观察芯片内部结构复杂,且表面覆盖了一层金属层,无法观察到异常
3.7后续补充
后续ADI的亚洲区技术支持工程师专门来现场确认,现场更改了电路板及评估板的一些参数,包括更改环路滤波的参数,也没办法解决出现的杂散问题,带回了2PCS失效样品回去分析。
带回去的2 PCS失效样品他们确认是没有问题的,他们的工程师建议我们在没有用的RFoutB上加上一个50Ω的负载再测试看一下。
排查我们内部的评估板及PLL板发现我司的评估板及PLL板RFoutB均悬空,对Vvco加51Ω电阻后失效的芯片均恢复正常。
查阅芯片手册发现芯片的RFoutA及RFoutB输出均为差分输出。
RFoutB悬空,导致恒流源电流全部从RFoutA输出导致的三极管电流过大,产生杂散及失锁。从改小Core Power Current能使芯片输出恢复正常也能从侧面说明此问题。且芯片手册上也有要求没用的输出管脚必须要做匹配处理,具体请见芯片手册。
四. 结论
芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁,为设计上的问题。