马赫泽德干涉仪

干涉测量法是高精度光学测量的关键技术,常用于表面轮廓、缺陷和机械变形的检测。本文通过VirtualLabFusion展示了如何构建具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪,并分析了光学元件倾斜和位移对干涉条纹的影响。
摘要由CSDN通过智能技术生成

摘要
 

干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 
 

建模任务
 

由于组件倾斜引起的干涉条纹

 

由于偏移倾斜引起的干涉条纹

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