积分球测量荧光量子产率的最优测试条件

荧光量子产率是衡量物质将吸收光能转化为荧光能力的参数,与物质化学结构密切相关。测量方法主要包括参比法和直接法,前者操作简便但受限于样品类型,后者则更为通用。直接法现因技术进步而得到广泛应用,不受样品状态限制。测试过程中,激发波长的选择对结果影响显著,需避免激发和发射峰的交叠以确保准确性。景颐光电的通用荧光量子效率积分球提供了一种解决方案,适用于不同类型的样品测量。
摘要由CSDN通过智能技术生成

荧光量子产率,是单位时间(s)内,发射荧光的光子数与吸收激发光的光子数之间的比值,符号φf。它表示物质将吸收的光能转变成荧光的能力,是荧光物质一个最基本而重要的参数。φf值的大小与物质的化学结构紧密相关,任何影响物质化学结 构的因素都会导致荧光量子产率的改变。

测量荧光量子产率的方法主要有两种:一种是参比法,测得的是相对荧光量子产率;另一种是直接法,测得的是绝对荧光量子产率。参比法测量荧光量子产率的优点是:操作简便,可以消除标准样品与待测样品共同的误差来源,从而提高测量准确度。但是,参比法也有很大的局限性:待测样品 的光谱位置与标准样品的光谱位置必须相接近,且必须为液体。这就导致大量的无合适标准样品匹配的液体样品以及固体样品的荧光量子产率无法测量。直接法在20世纪60年代以前是测量荧光量子产率的主要方法,但是该方法限于当时测量工作繁琐,且误差来源较多,一度被参比法取代。随着科学技术水平的不断进步,采用直接法测量荧光量子产率的测量工作已大大简化,并具有较好的测量准确度。而且,采用直接法测量荧光量子产率不受标准 样品匹配和样品状态的限制,可以应用于绝大部分样品的荧光量子产率测试,很好地弥补了参比法的不足之处,目前得到越来越广泛的关注和应用。

每种荧光物质都有其最佳的激发位置,测试荧光量子产率时,一般选择其最佳的激发位置激发。但是,在荧光量子产率测试中经常会遇到激发峰与发射峰有交叠的情况,这种情况给荧光量子产率的计算带来了一定的困难,对最终的结果有一定影响。这种情况可以通过移动激发波长位置从而避免交叠而改善。激发波长的改变对荧光量子 产率影响较大,即使间隔10nm激发也会产生较大差别。因此采用积分球测试荧光量子产率时,最好不要移动激发波长位置,以确保测试结果的准确。在保证测试曲线光滑且荧光强度合适的情况下,尽可能选择较长的步长、较短的积分时间以及较小的狭缝,并且在测试中保持激发波长的位置不变。

 

 景颐光电通用的荧光量子效率积分球有三个开口,分别是光入射口,样品口和出光射口。光入射口置有准直镜,将激发光源准直照射到样品,出光口内置有挡板,防止入射光直接出射。常用的样品口配套有样品比色皿支架,样品比色皿支架可用于液体、粉末、薄膜等样品测量。

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