光致发光荧光量子产率测试系统

荧光染料是一种新型染料,它既有常规染料的着色特性,又能发射出荧光,使得织物的饱和度和鲜艳度提高,广泛用于纺织、服装等领域。目前,荧光染料在防伪、分子探针等方面的应用也方兴未艾。

荧光染料吸收可见光和近紫外辐射的能量,发射出比吸收波长长的可见光,使织物增艳。当一个正向构造的分光光度计(光源-单色器-样品-光检测器)用于测量荧光样品的反射率时,激发光首先通过单色器形成单色光后照射样品。以400nm单色光为例,如果样品没有荧光,在400nm处只有反射光被检测器检测记录下来;如果是荧光样品,在400nm处吸收的能量会在一个比较宽的波长范围作为荧光能量发射出来。这时,检测器检测到的不仅有激发光的发射光部分,还有荧光部分。因此,正向构造的分光光度计测荧光样品会得到复合的结果,而逆向构造的分光光度计(光源-样品-单色器-光检测器)测量荧光样品时,荧光在到达检测器之前被单色器分解,反射部分和荧光部分能被检测器正确区分开,所以能得到合理的结果。

荧光样品由逆向构造的分光光度计测量时,其反射率(简称逆向反射率)曲线可分为以下四个部分:吸收区、交界区、发射区和无影响区。与此相对应也可以将正向构造的分光光度计所测得的反射率(简称正向反射率)曲线分成同样的四个区域。

当逆向构造的分光光度计测量荧光样品的反射率时,在吸收区逆向反射率显示的是荧光染料真正的反射情况;而在交界区,荧光染料有重吸收和重发射,这时,检测器检测到一部分荧光,所以结果失真;在发射区,因为只有荧光发射,没有对光的吸收,则测定记录的为荧光染料的荧光发射加激发光的反射。

当正向构造的分光光度计测量荧光样品的反射率时,在吸收区,检测器检测到的不仅有反射率部分,还有荧光部分,此时的结果并没有真正反映荧光染料吸收区的真实反射率;交界区由于有重吸收和重发射,结果也失真;而对于发射区,正向构造的分光光度计并没有检测到荧光部分,理论上显示的应该是发射区的真实反射率。

在荧光染料的吸收区,若光源的辐通量很小,荧光染料吸收的光能量很小,则荧光染料荧光发射的辐通量也很小;辐通量增大,则荧光发射增强。荧光染料在吸收区的真实反射率曲线与底物的反射率曲线所包围的面积直接表示了荧光吸收部分的总能量。

荧光染料FB-S最大吸收波长大约为530nm;最大发射波长大约为600nm。浓度增加,最大激发波长与最大发射波长并没有发生变化。吸收部分和荧光部分也呈现镜象对称情况,反映了荧光染料的光学特性,但可以发现荧光染料FB-S有一个比较宽的吸收带,这可能是由染料本身的结构所致。通过积分能够计算出浓度为0.1%和0.3%时的QA、QE及各浓度下荧光量子效率。随着浓度增加,QA、QE增加,表明荧光染料对光的吸收和荧光发射是随着浓度增加而增加。

 荧光量子效率测试仪主要用于材料(溶液、粉末、薄膜)荧光量子效率的测量,测试系统经过可溯源的光源进行定标,能够进行准确的绝对量子产率、色度,同时可以实现光致发光谱的测量和记录。除更换光源、取放样品等操作外,其他测量所需操作只要在软件界面上就可完成,实现自动化测量。系统结构简单,操作方便。光致发光量子效率测量仪的测量稳定、快速、可靠,相比于传统荧光光谱仪,整个系统具有体积小,使用方便等优点。其提供了一种低成本荧光探测和量子效率测量的解决方案,适合相关高校和科研单位选购。

 

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