一文让你懂得功率器件8D报告EOS大能量干扰

EOS（Electrical Over Stress），即电气过载现象，指的是电子设备所承受的电流、电压或功率超出其正常承受范围的情况。这种过载现象往往会对电子设备造成损害，甚至导致设备性能衰退或完全损坏。以下是对EOS大能量干扰的详细解析：

一、定义与特性

三、影响与后果

• 定义：EOS是指电子设备在工作过程中，由于外部或内部因素导致的电流、电压或功率的突然增加，且这种增加超出了设备设计的正常承受范围。
• 特性：
  • 电压与持续时间：EOS的电压相对较低，通常不超过100V，但其持续时间较长，通常超过1us。
  • 破坏性：EOS的破坏严重性往往比ESD（静电放电）大得多，因为它涉及的是较长时间内的能量积聚和释放。

• 二、常见来源

• 电源干扰：包括AC/DC电源的杂讯、过压以及不稳定的供电电压。
• 测试与切换：测试程式的切换（如热切换）可能导致的瞬变电流、峰值或低频干扰。
• 外部环境：如雷击、闪电等极端天气条件。
• 设备内部因素：如测试用例存在缺陷，在器件尚未上电或已超过其操作上限的情况下给器件发送测试信号。
• 其他设备干扰：来自其他设备的脉冲信号干扰，或从其他装置发送的脉冲。
• 热损伤：EOS的本质是瞬间电流电压的积聚导致热量的爆发，这种热量可能损坏器件的PN结或沟道，造成热损伤。
• 性能衰退：即使设备没有完全损坏，EOS也可能导致设备性能下降，如响应时间变长、精度降低等。
• 设备故障：在严重的情况下，EOS会导致设备直接故障，无法正常工作。

 

四、预防措施

• 电源管理：确保电源的稳定性和质量，避免过压、欠压和杂讯等问题。
• 测试规范：制定并执行严格的测试规范，避免在设备未准备好或超过其操作范围时进行测试。
• 防护设计：在电子设备的设计中考虑EOS防护，如使用TVS（瞬态电压抑制器）等防护器件来吸收和泄放多余的能量。
• 环境控制：在电子设备的使用和存储环境中控制温度、湿度和电磁干扰等因素。

综上所述，EOS大能量干扰是电子设备面临的一种严重威胁，需要我们从多个方面入手进行预防和应对。