日本日置IM7583阻抗分析仪IM7581

日本日置IM7583阻抗分析仪
日本日置IM7583阻抗分析仪使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量，日本日置IM7583阻抗分析仪高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：*快0.5ms
日本日置IM7583阻抗分析仪
日本日置IM7583阻抗分析仪高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：*快0.5ms
测量频率：1MHz~600MHz
测量时间：*快0.5ms（模拟测量时间）
基本精度：±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
日本日置IM7583阻抗分析仪主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。

日本日置IM7583阻抗分析仪
日本日置阻抗分析仪IM7583
阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz?9?13GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”选择任意的扫描点和参数，zui多进行16点的判定。
阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能
使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。
阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能
使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。
阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。