多场成像,快速提高机器视觉检测能力--51camera

文章介绍了多阵列CMOS传感器与芯片级二向色滤光片的结合,如何实现单次扫描捕获多种光照图像,提高高速成像的灵敏度和信噪比。着重讨论了时间延迟积分技术在光缺乏条件下的应用,以及在印刷检测、电子电路板检测和食品分选中的多光谱成像优势。
摘要由CSDN通过智能技术生成

      多阵列CMOS传感器与芯片级涂层二向色滤光片相结合,可在单次扫描中同时捕获明场、暗场和背光图像。

      多场成像是一种新的成像技术,它可以在不同的光照条件下同时捕获多幅图像。再加上时间延迟积分(TDI),这种新兴的成像技术可以克服许多限制的传统的方法。

      随着传统视觉技术的日益成熟,它在工厂自动化、环境监测和生命科学等多个终端市场中的应用也越来越广泛。对于需要高灵敏度和快速图像捕获的应用,线扫描相机已成为一种特别关键的成像技术。与面阵相机不同,线阵相机使用一维线性阵列。这允许快速传输图像数据从传感器到相机,然后到主机的速度达到几十万赫兹。在高速成像中,灵敏度在实现更高的信噪比,因此更好的检测能力,以识别感兴趣的对象方面起着重要的作用。传感器的灵敏度取决于它的量子效率和光子收集能力,当时间延迟积分变得相关。

      基于线扫描成像技术,时间延迟积分技术已成为一种成熟的在光缺乏条件下进行高速成像的技术。TDI使用多次曝光来收集更多的光子,同时保持低读噪声。今天,越来越多的高速应用需要时间延迟积分,特别是在不能增加成像对象上的光强度时,在获取光谱信息非常重要的成像应用中,需要使用带涂层光谱滤光片的线扫描彩色或多光谱相机。

      由于硅传感器不能分辨波长,彩色或多光谱成像需要光谱滤波器。将时间延迟集成技术与光谱滤波器相结合,为高灵敏度成像应用提供了新型先进的机器视觉解决方案。

     越来越多的成像应用需要在各种光配置下捕获图像数据,例如,组合明场、暗场和背光技术以更有效地识别某些物体、细节或缺陷。这种多场成像方法可以在一次扫描中获得两种或多种光照条件下的图像。

      为了获得这些图像,大多数视觉系统需要对物体进行多次扫描。这种方法不仅极大地限制了系统的吞吐量,而且在系统设计中对机械运动也有严格的公差要求。扫描过程中的任何随机振动都可能导致错位,从而降低图像分析的准确性。

      新型多视场相机解决方案将TDI传感器与芯片级涂层分色滤光片相结合,提供了一种解决方案。

      随着视觉技术的不断发展,预计CMOS传感器将越来越多地与先进的过滤器相结合。对于印刷检测应用,将近红外通道添加到可见光成像仪可以帮助检测钞票、护照和其他文件上印刷的隐形安全油墨。对于电子印刷电路板的检测,红外图像数据允许更深的穿透深度,以揭示表面下的缺陷。

     在食品分选应用中,多光谱RGB-NIR成像有助于识别更广泛的异物。因此,多谱成像已越来越多地采用这种应用。许多行业正在从传统的彩色成像升级到多光谱成像。二向色滤光片增强了这些能力,因为它们可以被设计成适合特定应用所需的任何光谱带。例如,这种能力可以帮助开发能够在一次扫描中对生命科学中的各种生物标志物的荧光成像的特定相机。组合时延集成和二向色滤光片技术,有望提供进一步的突破性解决方案,以满足当今苛刻的需求。

机器视觉产品资料查询平台,查看更多多光谱工业相机。

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