光耦对称性测试

常见的线性光耦结构是由一个LED灯两个探测器芯片。

当LED发光时，两个PD芯片产生大小相似的光电流，电流大小是否接近，决定了产品的传递系数的大小和非线性度。因此在生产流程中耦合过程十分重要，一种简单且节约成本的的方法来量。     

电路结构如下图所示，两个探测器产生的光电流大小不一致会在中间产生一个差电流，可通过一个TIA将电流放大并可以用万用测量出来。