简单的坏点校正记录

文章探讨了传感器工艺缺陷导致的坏点问题,包括PD点和温度、电流噪声等因素的影响。坏点校正的目的是减少像素值差异带来的影响,避免闪烁现象。坏点检测通过比较像素点差异与阈值来识别,而坏点修复则采用插值和邻域平均值等方法。
摘要由CSDN通过智能技术生成

坏点的成因

  1. Sensor 工艺缺陷:像素点在工艺上的缺陷,光电转换过程出错……
  2. PD 点: 固定位置用于 PDAF
  3. 其它原因引起:温度(曝晒,电流噪声增大等等),gain……

坏点校正的目的

  • 坏点像素值与真实值差异大,后续模块无法去除
  • 坏点回造成部分 pixel 闪烁

坏点校正的原理

坏点校正分为2个阶段:坏点检测和坏点校正。

坏点检测

1,简单的判断方法

分别计算当前点与同通道3x3区域范围内除本身之外的次大值以及次小值的差异,并将差异与阈值进行比较,两者均小于等于阈值时就判定为good pixel,否则为bad pixe。

2,稍微复杂的判断方法

将当前点周围3x3区域内除自身外的次大值(dmax)以及当前点周围3x3区域内除自身外的次小值(dmin)与周围3x3 区域平均值(avg)进行比较,得到good pixel的判断阈值(th),该判断阈值(th)与以下三个因素有关:

(1)dmax - avg:当前点周围3x3区域内除自身外的次大值与平均值的差异;
(2)dmin - avg:当前点周围3x3区域内除自身外的次小值与平均值的差异;
(3)det_th_ratio:用户设置的det_th_ratio值。

坏点修复

1,取0°,90°或者两个斜角的插值。

2,8临域的均值、中位数等。

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