CC1310 LaunchPad开发板底噪测试

        测试射频底噪时，主要关注的是在无信号输入时，系统或器件产生的最小噪声功率。这通常涉及到使用频谱分析仪（频谱仪）来测量输出噪声功率谱密度。以下是进行射频底噪测试的几种方法：

1. 使用频谱仪直接测量：

   • 通过频谱仪的Marker功能，在特定的频率点上标记并读取噪声功率密度。这种方法适用于测量宽带噪声谱中某频率的噪声功率密度。
   • 在进行时域测试时（SPAN=0），可以对整条trace曲线上的功率数据进行平均和计算，以获得更准确的噪声功率密度读数。
   • 在进行频谱测试时（SPAN>0），可以选择标记点左右多个测试点进行平均和计算，以减少噪声读数的起伏。

 2 使用TI SmartRF Studio测量：

           测量CC1310 LaunchPad底噪，如下图：

            利用CC1310 LaunchPad开发板测量自己设计板子的底噪，如下：