CLRS 4-6 VLSI chip testing

From 水木社区 Programming版 (Dec 22 2006) By pingfan (繁华一梦)

用G表示好芯片，B表示坏芯片，x-y表示用x和y比较，0、1分别表示测试结果为好芯片和坏芯片。

则有以下几种情况：

G-G: 1-1

G-B: 0-0 or 1-0

B-B: 0-0 or 0-1 or 1-0 or 1-1

 

再做一下逆向分析：

1-1: G-G or B-B

0-1: B-G or B-B

0-0: B-G or G-B or B-B

 

可以看出，当x-y的比较结果a-b中出现0时，x和y中至少有一个芯片是坏的。

 

因为好芯片比坏芯片多，所以有如下算法：

 

1. 定义集合Chip, 包含所有的2k块芯片

2. 将Chip中的芯片等分为两组：x[1..m]，y[1..m] 定义新集合newChip <— {}

3. for i <— 1 to m 比较x[i]和y[i]，若结果为 "1-1"，newChip.insert(x[i])；

4. if newChip.size() = 0

      返回temp

    else if newChip.size() = 1

       返回newChip中的芯片

    else if newChip.size() 是奇数

       删除newChip中的任意一块芯片，并将其保存到temp

5. Chip <— newChip，回到第2步。

 

Complexity：最糟糕情况下，比较次数为：k + k/2 + k/4 + ... + 1 < 2*k 。