算法导论习题4-5：芯片检测

2019.11.14更新: 修正了方法1里的一个错误，增加了方法3。

习题4-5 3rd edition (4-6 2nd edition)

Diogenes 教授有n个被认为是完全相同的VLSI芯片，原则上它们是可以互相测试的。教授的测试装置一次可测试二片，当该装置中放有两片芯片时，每一片就对另一片作测试并报告其好坏。一个好的芯片总能够正确的报告另一片的好坏，但一个坏的芯片的结果就是不可靠的。这样，每次的测试的四种可能结果如下：

A芯片报告       B芯片报告                结论 
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B是好的          A是好的            都是好的，或都是坏的 
B是好的          A是坏的            至少一片是坏的 
B是坏的          A是好的            至少一片是坏的 
B是坏的          A是坏的            至少一片是坏的 

a）证明若不少于 n/2 的芯片是坏的,在这种成对测试方式下，使用任何策略都不能确定哪个芯片是好的。
b）假设有多于 n/2 的芯片是好的，考虑从 n 片中找出一片好芯片的问题。证明 n/2 对测试就足以使问题的规模降至近原来的一半。 
c）假设有多于 n/2 的芯片是好的，证明好的芯片可用 O(n) 对测试找出.给出并解答表达测试次数的递归式。

第一问证明如下：将芯片分为3组，（a）好的（b）数量和a组相同的坏的（c）剩下的坏的。若每组都坚持认为本组是好的而其它组的都是坏的，则a组和b组无法区分。

可以通过如下三种方法找出一