研发/测试工程师不可忽视的探头选择,随附超2000种选型目录

在高密度电路板测试中,选择合适的探头至关重要。本文介绍了单点探头、尖锐探针、可伸缩探针、线钩、刺针和IC测试夹等工具的特性和应用场景,强调了安全、材料和精度在测试线选择中的作用,为研发和测试工程师提供参考。

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作者:RobertPoirier,资深产品经理

 

计算机系统中元件和系统的测试和诊断带来了许多特殊挑战。有时候难以连接所需的准确测试点。高密度、多层电路板以及引脚细小的密集元件造成电压表的探测非常困难。当系统运行时,轻轻滑动一下探针就可能造成灾难性的短路。而测试测量的目的是发现并修复问题,同时避免引发更严重的损坏。

解决这一难题的方案有很多,我们接下来讨论可用于探测电路板上安装的器件和元件的一些方法。

 

单点探头

 

 

单点探头是最常见也是最显而易见的探测方法。大多数数字万用表(DMM)都提供一组测试线,对于各种各样的测试场景非常有用。这种类型的探头非常适合于检查电源电压或检查备用电池。但是,这些探头大多数太大,不适合高密度电路板。这些探头很容易滑动,损害其他元件或造成短路。此类DMM探头上的探针直径通常为大约0.080",触点不尖锐。再加上日常磨损造成探针被磨圆,就形成了几乎不可能完成的任务。可以将这些探针磨尖,但如果没有了外部镀层,底层的金属很容易快速变色。

 

尖锐探针

 

 

连接高密度电路板上小接触点的最佳方法是使用非常尖锐的探针。虽然尖探针很容易损坏,但由于没有镀层,很容易重新磨尖。多家制造商都提供带有容易更换尖探针的探头。不锈钢尖探针从0.080”直径开始,呈锥形形成极尖的针尖。另一种探针从0.040”直径的不锈钢开始,呈锥形逐渐形成长而尖的探针。这种探针也非常适合狭窄的小空间,凭借锋利的尖端,

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