IC在測試生產過程的靜電放電(ESD)擊傷及電性過壓(EOS)現象
在待測物、設備或是人員之間,不可避免都會有移動及接觸與再分離的行為出現,因此在待測物上必然會發生靜電放電(Electrostatics Discharge, ESD)的現象。雖然在環境溫度及相對濕度與接地都會做有效的管控,但對一些已知會產生ESD的工作點還是需要加以注意。特別是在生產過程中,往往造成許多的靜電電荷(Electrostatic Charge)大量殘存在元件與積體電路中,繼而在後續的生...
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2019-06-02 14:59:04 ·
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