芯片测试问题

有2k块芯片，已知好芯片比坏芯片多。请设计算法从其中找出一片好芯片，说明你所用的比较次数上限。
其中好芯片和其它芯片比较时，能正确给出另一块芯片是好还是坏。坏芯片和其它芯片比较时，会随机的给出好或是坏。

 

问题分析：

芯片的测试是两两配对，并且是单向的，好->坏和坏->好是不同的。

 

那比较容易想到的是列出两个芯片测试的所有可能结果：

做这样的测试，去芯片A和B，首先A测试B，然后B测试A，假设好为1，坏为0，那么可能的结果有3类，

1. 都是好的                11 | 00

2. 一个好一个坏          00 | 01 | 10

3. 都是坏的                00 | 01 | 10

 

那2k个芯片两两一组，有1k组个芯片进行上面的测试，那结果无非就是上面的组合。

 

假设情况1的有a对，2有b对，3有c对，那有前提条件 a+b+c=1k

注意到情况2和3中，坏>=好，也就是 a+(b+c)=1k，(b+c)中坏>=好，而已知的好>坏，所以可知a情况中必定好>坏。

也就是情况1中，11和00的组合中，11要比00多。

 

那我们列举a元素的个数可能为下面的情况：

1 11
2 11 11
3 11 11 00             
4 11 11 11 00
5 11 11