Flash Timing Test 记录

Flash Timing Test

记录一下目前在测的NAND Flash的Timing测试，记录测试中碰到的一些问题。

查阅数据手册

首先在测之前没有详细地阅读数据手册，所以出现了一些问题，其中最大的问题是没有对照数据手册的Interface Mode Selection真值表，所以关于示波器的触发设置的有些不对，一直无法触发到。
MT29F2G08ABAGAWP-IT:G芯片数据手册中的Interface Mode Selection表。

所以下次测试得先看表，对照着设置触发后才能正确的抓到不同状态下所要测的 t 值。

测试点焊接问题

困扰我最大的问题是测试点问题，首先目前我在测的板子所需测的测点在Top层和Bottom层，所以测试时需要翻转板子，而又因为需要持续触发，所以需要焊接测试点，然后用示波器的夹持方式测试，而测试点大多为0402甚至0201封装的电阻电容一侧，焊接时几乎没有多少附着面积，这对我的焊接功力是一个比较大的考验，这方面也是我还有待加强的地方。

焊接不好所带来的后果就是，测试点不牢靠，即使贴上纸胶仍然会掉落，测试的大部分时间也是浪费在这上面，之后如果测另一块板子，希望能有更好的测试点位置或者有更好的测试工具之类的，当然自身的焊接功力也更需要提升。

另外就是Flash是BGA的封装，针对这种封装也无法使用直接焊在芯片周围的方式࿰