调试触屏的一些积累

原文： http://kaiyuan.blog.51cto.com/930309/589490

 

最近在做一些调试触屏的工作，经过一段时间的接触，碰到了一些问题，随手记下。

 

电容屏的的驱动，常见的问题是：

 

1.虚拟按键的敏感区域不正确

比如触碰虚拟按键的图标，按键无反应，但是触碰按键图标的右上角，按键的反应却正常。

 

2.在触屏测试时，画的线不圆滑，有的折线很明显

触屏的交互方式有种叫做握手模式，但是需要配合firmware来共同协调，达到很好的效果

 

3.硬件的问题

敏感区域向右上偏，左下角会有区域无反应

 

4.在调试过程中

getevent来检查是否产生中断

cat /proc/kmsg来观察自己设定的trace

 

调试的基本过程：

1.sample代码和datasheet的获取。

2.上电。有的是常供电，有的是需要操作一下gpio

3.调中断。如果在串口中能输出终端信息，也就成功了一半了。

4.确认i2c地址，vendor提供的地址大多是8为地址，而android里面使用的是7为的地址。

5.上面的步骤完成后，触屏就可以正常通讯了，也就是完成了基本的功能，下面的工作就是做一些优化，如firmware的升级、虚拟按键的添加及坐标的调整、精确度的调整等等。

6.测试。进行详细的测试，有问题再根据情况解决。

 

电阻屏

需要注意的是，需要先进行校准，校准之后才能判断，触屏的驱动到底好不好使。

电阻屏有弹性，是靠压力来产生电信号的，准确度比较高。

 

软件平台：Android 4.0

问题描述：

今天在调试电容屏驱动，将Android 2.3的驱动代码直接移植到4.0中，发现触摸屏不能用；

由于硬件已事先在Android2.3上验证过，首先排除了硬件上的问题；触摸屏驱动也在2.3平台上能正

常使用，为什么移植到4.0上就出现问题了呢？

 

测试步骤：

1、getevent查看事件发现事件上报正常；

2、加串口打印，发现触摸点坐标也正常；

难道底层没问题，而是应用层有问题了？这时突然想起前几日在4.0平台上移植过电阻屏驱动，为什么

电阻屏能正常工作而电容屏却不行了？看来问题还在触摸屏驱动里面。

 

通过对比两者驱动代码，找到了问题的原因：

原来在电阻屏驱动中，每次上报事件结束时都有报如下两句：

input_report_key( input_dev , BTN_TOUCH , 1);    // pressed

input_report_key( input_dev , BTN_TOUCH , 0);    // realse

在电容屏驱动中却没有，加上之后电容屏工作正常。

 

之后在网上搜索了一下才知道Andorid 的 touchscreen 事件必须要有  BTN_TOUCH 才可以。

所以初始化的时候加上：

tablet_dev->keybit[BIT_WORD (BTN_TOUCH)] = BIT_MASK (BTN_TOUCH);

报事件的时候加上

input_report_key( input_dev , BTN_TOUCH , 1);    // pressed

input_report_key( input_dev , BTN_TOUCH , 0);    // realse