NVME SSD 存储性能影响因素-2

5.1 硬件因素

NAND Flash本身

后端通道数（CE数量）及总线频率

后端通道数决定了并发NAND Flash的数量，决定了并发能力。不同的SSD控制器支持不同数量的通道数，也决定了SSD的后端吞吐带宽能力。NAND Flash Channel的总线频率也决定了访问Flash的性能。

SSD控制器的处理能力

FTL

SSD 控制器架构

通常SSD控制器采用SMP或者MPP两种架构

内存支持容量

为了追求高性能，SSD内部的映射资源表会常驻内存，映射表的内存占用大小是盘容量的0.1%，当内存容量不够大时，会出现映射表换入换出的问题，影响到性能。

PCIe的吞吐带宽能力

温度对性能造成影响

5.2 软件因素

数据布局方式

垃圾回收/wear leveling调度方法

OP预留

Bit error处理影响性能.

FTL算法

IO调度算法

驱动软件

IO Pattern对性能产生影响

使用寿命对性能造成影响

5.3客观因素

使用时间越长会导致SSD性能变差

环境温度也会对性能造成影响

5.3.1 GC 对性能的影响

SSD内部有一个非常厚重的软件层，该软件层用来解决NAND Flash的问题，采用log-structured的方式记录数据。

在性能测试的时候，需要对盘进行老化预处理。通常预处理的方法是顺序写满盘，然后再随机两遍写盘，预处理完成之后，再对盘进行随机读写测试，得到Spec中定义的值。稳态值基本可以认为是盘的下限性能。

在稳态情况下，SSD内部的GC会全速运行，会占用较多的NAND Flash后端带宽。背景流量和前端数据流的比例也就体现了SSD盘的写放大系数，写放大系数越大，背景流量占用带宽越多，SSD对外体现的前端性能也就越差。

GC是影响性能的重要因素，除了影响性能之外，GC会增大写放大，对SSD的使用寿命产生影响。从软件层面的角度考虑，可以通过优化应用IO Pattern的方式优化SSD内部GC，从而进一步提升SSD的性能，优化使用寿命。对于下一代更为廉价的QLC SSD介质，就需要采用这种优化思路，否则无法很好的满足实际业务的应用需求。

5.3.2 IO Pattern 对性能的影响

IO Pattern会对SSD的性能产生严重影响，主要表现在如下几个方面：

不同的IO Pattern 会产生不能的写放大系数

不同请求大小的IO之间会产生干扰，读写请求之间会产生干扰+

5.3.2.1 顺序写入pattern对SSD性能优化的奥秘