Qin_Baba-CSDN博客

原创 DRAM 失效模式

NPSF，即邻域模式敏感故障，是一种特定类型的故障，它发生在当存储器中的某些存储单元在特定的数据模式或访问模式下对相邻存储单元产生干扰时。这种故障通常是由于存储单元之间的电容耦合效应引起的，特别是在高密度和高速的存储器设计中更为常见。耦合故障指的是一个存储单元的状态变化影响到相邻或附近的其他存储单元的状态，导致这些存储单元读取错误的数据。，即干扰故障，是一种更广泛的故障类型，它描述了存储单元在读写操作时对相邻存储单元的干扰。当尝试从0变为1或从1变为0时，存储单元无法正确执行这种状态转换。

2024-07-11 14:01:22 431

原创 Magnum测试程序组成

测试仪通道编号为a_1至a_64用于子装配A，b_1至b_64用于子装配B。在某些情况下，一对针脚（一组A中的一个和一组B中的一个）将共享相同的时序和数据信息。在之前的平台（Magnum I和Magnum 2）中，针脚对资源共享是默认操作。- 在创建测试程序时，您需要做的第一件事之一是告诉测试程序被测设备（DUT）板或探针卡是如何接线的。对于子装配A，高压针脚编号为a_hv1至a_hv8。对于子装配B，高压针脚编号为b_hv1至b_hv8。将同类型的Pin组合成同一组，便于进行测试资源的分配。

2024-05-22 22:34:51 396 1

原创【五】pattern labels

APG指令的每一条语句或代码行都用于编程APG的不同部分。记住，尽管一个指令中可以有8行代码，但它只是一个单一的指令。APG指令的每一行语句都有默认值。如果你想在你的指令中使用这些默认值，你可以省略那些语句。在初始条件之后，接下来是实际的APG指令。百分号后面可以跟随多达8行。这些语句的顺序并不重要，但尽量在所有指令中使用相同的顺序。如果一个APG指令使用了默认值，那么这个指令可以被重写时会覆盖默认值，而这两个指令将执行完全相同的操作。这意味着，如果某些参数不需要更改，就可以省略它们，从而简化指令的编写。

2024-05-16 09:30:26 246

原创 APG Statements（2）

在这条指令中，XALU的借位标志总是设置为“1”。每次执行这条指令时，ALU将从xmain寄存器的值中减去1。YALU使用的是条件借位。如果xmain寄存器的值处于其最小值，YALU将从ymain寄存器的值中减去1。

2024-05-16 09:26:19 240

原创 APG Statements（1）

我们将首先查看的语句是XALU、YALU或ZALU。这两个语句用于生成用于测试内存设备的地址位。上面的块图显示了X或Y地址生成器的操作。这些ALU通常与寄存器结合使用，以控制地址的生成方式。用户可以配置这些寄存器来设置地址模式、步进大小、起始地址等。通过这些ALU和寄存器的组合，可以实现复杂的内存测试模式，以确保内存设备的正确性和性能这种设计允许更灵活地生成地址，但同时也要求开发者在编写指令时注意寄存器的使用规则。

2024-05-16 09:18:46 738

原创 APG（算法模式生成器）

只有在APG中的D0位上的strobes启用，且pin scramble已经选择了D0用于测试仪通道9，你才会在测试仪通道9上获得strobes。在上面的图表中，背景功能使用对输入的单一操作。这个特性的作用是，如果XO位和YO位都是1，那么发送到DUT的数据将被反转；数据寄存器是36位，但它可以配置为一个36位宽的大寄存器，或者两个18位宽的小寄存器。这些pattern将生成所有的1和0，这些1和0将被应用到你的device的针脚上。发送到DUT的数据的反转可以基于X位和Y位中的单个位。

2024-05-16 08:44:03 527

原创集成电路老化--NBTI效应（2）

NBTI最终表现为PMOS导通时间延长，从而增加CMOS电路的传播时延。当累积到一定程度时，进而造成时序违规。将输入调成三角波可以更明显的观察到Vt变化带来的输出变化。通过波形图可以看到Vt升高后输出信号发生变化，这种变化的累积会对集成电路偏离设计，损失性能乃至失效。可以看到当输入为高时CMOS反相器输出应为低，但由于上方的PMOS管Vt升高导致无法彻底关断，输出没有实现反向，无论输入高或低输出都是高。

2024-03-14 21:32:27 704 1

原创集成电路老化--NBTI效应

NBTI（Negative Bias Temperature Instability）是指在负偏压下，晶体管的电流-电压特性随时间的变化。当晶体管处于负偏压状态时，电子从价带穿越禁带进入导带，形成电流。在这个过程中，电子与晶格中的原子发生碰撞，导致晶格振动加剧。随着时间的推移，这些碰撞会改变晶体管的电学特性，从而导致电流-电压特性发生变化，这种现象被称为NBTI。NBTI 晶体管老化的主导因素之一，越先进的制程越容易受到该效应影响。

2024-03-13 22:04:23 2195

原创集成电路测试工程师入门（二）

按时间顺序进行编排集成电路的测试项目，分为以下几个阶段，TE（测试工程师）一般也按照如下的测试阶段开展相关的测试任务。

2024-03-13 16:59:38 219

原创半导体测试（一）

探针台是一种用于在晶圆上进行配合探针卡进行电路量测的设备，在测试过程中，探针工作站会将探针与晶圆上的每个die进行接触，以进行电性测量。在这个过程中，每个die都被测试以确保它能基本满足器件的特征或设计规格书（Specification），通常包括电压、电流、时序和功能的验证。晶圆是一个圆形的硅片，在这个半导体的基础之上，建立了许多独立的单个的电路；在所有的die都被探测（Probed）之后，晶圆被切割成独立的dice，这就是常说的die saw，所有被标示为失效的die都被报废，。

2024-03-01 17:44:32 3185 1

原创 FLEXlm教程

FLEXlm是软件行业中最受欢迎的许可证管理器。FLEXlm以其允许提供软件许可证的能力而闻名（或浮动）网络上的任何位置，而不是绑定到特定的机器。浮动许可对用户和许可证管理员都有好处。用户可以通过在网络上共享许可证来更有效地使用这些许可证。许可证管理员可以控制谁使用许可的应用程序和许可证可用的节点。提示：以下是本篇文章正文内容，下面案例可供参考。

2023-04-11 10:40:58 2239 2