单片机实验汇编--FlashRom读写实验

本文介绍了一个单片机实验,涉及FlashRom的擦除、读取和写入操作。实验使用了富士通的29F040A芯片,详细讲解了该芯片的特性和基本操作,并提供了实验程序框图和程序。实验中通过外部数据观察窗口监控操作过程,同时提到了如何使用自动选择命令获取芯片信息。
摘要由CSDN通过智能技术生成

一.实验要求
利用实验系统提供的实验模块闪存,编程实现FlashRom擦除、读、写等基本操作。

二.实验目的
1.了解FlashRom的性能特点。
2.掌握FlashRom基本操作的编程实现。

三.实验电路及连线
在这里插入图片描述
模块的CS040接地GND;

四.实验说明

FlashRom 闪存以其存贮密度高、读写速度快、数据掉电保存等特点在移动设备、消费电子领域得到广泛的应用。
本实验模块使用日本富士通公司的29F040A,为单一5V供电4Mbit(512K×8)的FlashRom。具体的参数和有关操作的详细说明请见光盘中的芯片技术文档。建议实验前教师安排一定课时对FlashRom的原理和日本富士通公司的29F040A的操作作专门的介绍。
下面只就其一些基本操作作简要说明。
29F040A的操作命令见图23-1。需要说明的是29F040可分为8个64K的区块(sector),区块的地址由高位地址线A18,A17,A16来确定。可以通过命令对每一区块进行擦除、保护开/关等操作。

五.实验程序框图
在这里插入图片描述

六.实验程序

关于演示效果的观察,作以下说明:
1.在各步操作之间,可以用调试环境中的外部数据观察窗口或对话窗口中观察外部数据段的值的变化,如写入、擦除。29f040的容量为512K字节,本实验为简化程序,将片选直接接地,A15-A18接地,所以,用户可操作的是00000H — 07FFFH段空间。用户若要对其全空间操作,在51系统中需要使用额外的I/O线来切换地址,如P1口。在观察的时候,应注意空间地址的切换。
2.对于FlashRom, 可以使用自动选择(AutoSelect)命令获得器件的生产厂商和芯片信息。

 该程序针对T598实验机的模块9 **
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