1.在引用已经添加的头文件后依旧报错undfined,说明sdk_config内参数需要调整
2.调试部分:
在进入debug过程中,如果想退出则必须先清除掉所有断点,防止退出debug时系统卡住;
从IK-52832DK选项进入Debug中时才可出现调试中无小图标变成灰色情况,若从flash_s132_nrf52选项进入会有灰色出现;
3.出现以下no ulink错误时,对魔法棒中参数进行对照,尤其是Target中Xtal(IK和flash中都需查看),Debug的use和settings中参数.问题在移植NRF52832到NRF52832DK环境下时出现。
4.采样部分:
Saadc一次采样后,设计了n个单端输入通道则一次采样会采样n个,而不是一次采样一个通道,直到将缓冲区填满进入回调;
在saadc初始化采样时,重写配置参数不会在头文件中修改,而是重写:如原本结构体中定义了增益为1/6,要改成1/2则channel_config.gain=NRF_SAADC_GAIN1_2
此外,连续采样模式下只能使用一个通道;
假设增益为 1/6,芯片 ADC核的输入电压范围为 0.6v,那么外部输入范围为3.6v,即0~3.6v,小于0V的时候,会产生一个负数的输出,超过3.6V会被内部的电路钳制。导致测量数据出错。
5.定时器选择及使用:参考链接: link.
在选择timer时,nrf52832有5个定时器,分别为timer0~time4,使用蓝牙时timer0会被占用,所以只能选择剩下四个
6.jlink串口用法:在调试窗口看到原本输出到串口的数据,将jlink虚拟串口,link.
或者SEGGER-RTT调试(代替串口printf输出)
7.数据处理:
求正弦波有效值,自己不想手工计算则用multisim仿真,在探针上可以直接看到有效值vrms,而在万用表上需要对ac和dc都测量后得到Vrms=√(Uac2+Udc2)