1. 总体概述
1.1. 热噪声
➢
来源
任何导体都含有电子,在导体中电子较多,在绝缘体中电子较少,这些电子在某种 程度上可以自由移动。这种电子的随机运动构成了一种波动的交流电,它可以被检 测为随机噪声。
➢
影响
现代接收系统通常必须处理非常微弱的信号,但是系统组件所增加的噪声往往会掩 盖这些非常微弱的信号。灵敏度、误码率(BER)
和噪声系数是表征系统处理低电平 信号能力的参数。
在这些参数中,噪声系数是特殊的,因为它不仅适用于表征整个系统,而且适用于构成系统的前置放大器 pre-amplifier
、混频器
mixer
和中频放大器
IF amplifier
等系
统部件。
➢
克服噪声方法
克服噪声的一种方法是使微弱的信号更强,这可以通过提高向接收机方向传输的信 号功率来实现,或者通过增加接收天线截距的功率来实现,例如,通过增加接收天 线的孔径。但是提高天线增益,通常意味着更大的天线,并提高发射机功率,但最 终会受到政府法规、工程或经济因素的限制。另一种方法是最小化接收机组件中产 生的噪声。
噪声测量是确保增加的噪声最小的关键。一旦噪声与信号相结合,接收机就不能再 将信号频段内的噪声与有用信号区分开。通过增益提高信号电平,噪声电平将被提 高相同的幅度。
下图显示了几种数字调制方式的误码率与载波噪声比的关系,表明在信号噪声比仅 发生几分贝变化的情况下,误码率会发生几个数量级的变化。
1.2. 噪声系数
➢
定义
噪声因子
(noise factor)
,简写为
F
F=(Si/Ni)/(So/No)=(Si/Ni)/(G*Si/(Na+G*Ni))=(Na+G*Ni
)
/G*Ni
(1-2)
表示输入信噪比与输出信噪比的比值。其中
G
为
DUT
增益,
Na
为
DUT
产生的噪
声,
Ni
为输入噪声。
输入噪声
Ni
通常来自噪声源,用
kToB
表示,
B
为测量系统的噪声带宽,
K
是玻尔
兹曼常数
1.38 x 10-23 J/K
(焦耳
/
开尔文)
,参考源温度
To=290k
(
16.8°C
)
所以等式
F=(Na+G*Ni
)
/G*Ni
可表示为
F=
(
Na+KToBG
)
/KtoBG
噪声系数一般是频率的函数,但通常与带宽无关,虽然式
1-2
中噪声功率
Na
和
Ni
均与带宽成正比,但是分子带宽与分母的带宽约掉了,导致噪声与带宽无关。
噪声系数
NF(noise figure) = 10 log
10
F [dB],
表示信号通过设备时的信噪比下降量。因 为所有的设备都会给信号添加有限的噪声,所以噪声因子 F
总是大于
1
。
噪声系数的概念只适用于处理信号的网络
(
至少有一个输入和一个输出端口
)
➢
作用
⚫
低噪声系数能改进接收机的信噪比,降低接收机的误码率。
⚫
作为通信链路预算中的一个参数,较低的接收噪声数字允许较小的天线或较 低的发射机功率,以实现相同的系统性能。
1.3. 测量方案
当前测量噪声系数最常用的方法为
Y
因子法或者冷热源法。它使用一个与被 测器件输入端直接相连的噪声源,提供两个输入噪声电平。这种方法测试被测器件 的噪声系数和标量增益,适用于频谱分析仪和噪声系数分析仪解决方案。Y
因子法 很容易使用,特别是当噪声源具有良好的源匹配并且可以与被测器件直接连接时, 测量精度相当高。
测量不确定度
选择噪声系数测试解决方案时,最好选择能够尽量减少整体噪声系数不确定度主要 因素的方法。不确定度有:仪器本身的不确定度、超噪比(ENR
)和抖动。有的因 素则是由测试系统与被测器件之间的相互作用决定。 对于 Y
因子法,不确定度计算方式采用噪声源与被测器件直接连接。
噪声源选型
测量噪声系数时,噪声源的质量对于获得精确、可重复的测量结果非常关键。噪声 源的输出以频率范围和 ENR
来定义。通常提供的
ENR
标称值为
6 dB
和
15 dB
。
6 dB
噪声源用于:
——
测量增益对源阻抗变化特别敏感的器件
——
噪声系数非常低的被测器件
——
器件的噪声系数不超过
15 dB
15 dB
噪声源用于: