Android Native内存泄漏检测方案详解

陆业聪

已于 2024-11-02 22:23:06 修改

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分类专栏：大前端修炼手册文章标签： android

于 2024-05-06 14:09:16 首次发布

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本文详细介绍了在AndroidNative层检测内存泄漏的多种方法，包括AddressSanitizer(ASan),LeakSanitizer(LSan),Valgrind以及手动检测策略。强调了在开发和测试阶段使用这些工具的优势和局限性，以及在实践中如何结合多种手段提高检测效果。

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在Android Native层开发过程中，内存泄漏是一个常见的问题。内存泄漏不仅会导致应用程序占用越来越多的内存，还可能引发性能问题和崩溃。因此，检测和解决内存泄漏问题对于保证应用程序的稳定性和性能至关重要。本文将详细介绍四种在Android Native层检测内存泄漏的方案，并分析它们的优缺点及适用场景。

一、在Android Native层检测内存泄漏的方案

1.1 AddressSanitizer (ASan)

1.1.1 原理介绍

AddressSanitizer（简称ASan）是一种内存错误检测器，它可以检测出各种内存相关的错误，包括内存泄漏。在Android NDK中，我们可以通过在编译选项中添加-fsanitize=address来启用ASan。ASan会在程序运行时监控内存操作，当检测到内存泄漏时，会打印出详细的错误信息，包括泄漏的大小、位置和堆栈信息。

AddressSanitizer的原理：

内存布局变换：ASan在编译时改变程序的内存布局，使得程序中的每个对象（变量、数组等）周围都有一些额外的“红色区域”（redzones）。这些红色区域用于检测内存访问越界。例如，如果一个数组的访问越过了它的边界并访问了红色区域，ASan就会报告一个缓冲区溢出错误。
影子内存：ASan使用影子内存（shadow memory）来跟踪程序中的每个内存字节的状态。影子内存是程序内存的一个映射，用于存储有关内存状态的元数据，如内存是否已分配、是否已初始化等。当程序访问内存时，ASan会检查对应的影子内存，以确定访问是否合法。
编译器插桩：ASan通过编译器插桩（instrumentation）在程序中插入检查代码。这些检查代码在内存访问发生时执行，以检测潜在的内存错误。例如，ASan会在堆分配和释放函数（如malloc和free）中插入代码，以检测内存泄漏和使用已释放的内存。

官方文档：

https://developer.android.google.cn/ndk/guides/asan?hl=zh_cn

https://github.com/google/sanitizers/wiki/AddressSanitizer

1.1.2 优缺点和使用场景

优点：

检测速度较快，运行时性能开销较小。
能检测出各种内存错误，包括内存泄漏、越界读写等。
提供详细的错误信息，包括泄漏的大小、位置和堆栈信息。

缺点：

需要重新编译程序，可能导致编译时间增加。
可能会导致程序占用更多的内存。

使用场景：适合在开发和测试阶段使用，不适合在线上环境使用。

1.2 LeakSanitizer (LSan)

1.2.1 原理介绍

LeakSanitizer（简称LSan）是专门用于检测内存泄漏的工具，它可以检测出程序中未释放的内存。与ASan类似，我们可以通过在编译选项中添加-fsanitize=leak来启用LSan。LSan会在程序退出时检查所有未释放的内存，如果检测到内存泄漏，会打印出详细的错误信息。

1.2.2 优缺点和使用场景

优点：

专门用于检测内存泄漏，准确性较高。
运行时性能开销较小。

缺点：

需要重新编译程序。
只能检测内存泄漏，不能检测其他内存错误。

使用场景：适合在开发和测试阶段使用，不适合在线上环境使用。

1.3 Valgrind

1.3.1 原理介绍

Valgrind是一款强大的内存调试工具，它可以检测出各种内存相关的错误，如内存泄漏、使用未初始化的内存、内存访问越界等。但是，Valgrind的运行速度较慢，因此通常只在开发和调试阶段使用。

Valgrind使用一种称为动态二进制仪器（Dynamic Binary Instrumentation，DBI）的技术来检测内存错误。具体来说，Valgrind会在运行时将程序的机器代码翻译成一个中间表示（Intermediate Representation，IR），然后在IR上插入检查代码，最后将IR翻译回机器代码并执行。

1.3.2 优缺点和使用场景

优点：

能检测出各种内存错误，包括内存泄漏、越界读写等。
不需要重新编译程序。

缺点：

运行速度较慢，性能开销较大。
对于Android平台的支持不如ASan和LSan完善。

使用场景：适合在开发和调试阶段使用，不适合在线上环境使用。

1.4 手动检测

1.4.1 原理介绍

除了使用工具外，我们还可以通过手动检测来发现内存泄漏。例如，我们可以在每次分配和释放内存时，记录下相关信息，然后定期检查这些信息，找出没有被释放的内存。

在Android中，要手动检测Native层的内存泄漏，可以重写malloc、calloc、realloc和free等内存分配和释放函数，以便在每次分配和释放内存时记录相关信息。例如，我们可以创建一个全局的内存分配表，用于存储所有分配的内存块及其元数据（如分配大小、分配位置等）。然后，在释放内存时，从内存分配表中删除相应的条目。定期检查内存分配表，找出没有被释放的内存。

1.4.2 示例

下面代码的主要技术原理是重写内存管理函数并使用弱符号引用原始的内存管理函数，以便在每次分配和释放内存时记录相关信息，并能够在程序运行时动态地查找和调用这些函数。

以下是代码示例：

#include <cstdlib>
#include <cstdio>
#include <map>
#include <mutex>
#include <dlfcn.h>
#include <execinfo.h>
#include <vector>
#include <android/log.h>  

#define TAG "CheckMemoryLeaks" 
#define LOGD(...) __android_log_print(ANDROID_LOG_DEBUG, TAG, __VA_ARGS__)

// 全局内存分配表，存储分配的内存块及其元数据（如分配大小、调用栈等）
std::map<void*, std::pair<size_t, std::vector<void*>>> g_memoryAllocations;
std::mutex g_m