这样的需求如何设计测试用例

 测试点：<br />     1.DB查询A标志位成功清除<br />     2.DB查询A标志位清除后，不会影响到B、C、D、E、F、G标志位<br />逻辑：<br />     手动下架商品，可以清除A标志位;商品卖完自动下架，也可以清除A标志位<br />实现方式：<br />     某数据表的W字段用来标识商品的(A、B、C、D、E、F、G)标志位;W字段的值(是十进制）转换成16进制后，可分辨出商品的(A、B、C、D、E、F、G)标志位是否存在;每个非A标志位都可以和A标志位同时存在，所有标志位不能同时存在，但多个标志位可随意组合。<br />     A标志位：1000000<br />    B标志位：0100000<br />   C标志位：0020000<br />   D标志位：0004000<br />   E标志位：0000500<br />   F标志位：0000020<br />   G标志位：0000001<br /><br />     举例：<br />           TT商品的W字段值为268435489，转换成十六进制为10000021，表示此商品有A、F、G标志<br />           该商品下架后，W字段值为33，转换成十六进制为21，表示此商品有F、G标志<br /><br /><br /><br />希望跟大家一起讨论下这样情况下，如何设计出覆盖率更高的用例，且无冗余