27、低功耗FPGA实现技术解析

低功耗FPGA实现技术解析

1. 引言

在现代计算设计中，技术缩放以及不断增加的功耗问题已成为令人担忧的方面。这也引起了英特尔、IBM和微软等主要计算公司对FPGA技术的浓厚兴趣。尽管在某些情况下，FPGA实现相较于CPU/GPU实现可能仅带来适度的计算性能提升，但等效设计往往以低得多的时钟频率运行，而功耗与该因素直接相关。

随着技术的发展，功耗本应降低。在20世纪80年代和90年代的大部分时间里，新技术不仅增加了晶体管数量，还提高了运行速度并降低了功耗。然而，随着缩放程度的增加，由于栅极氧化物厚度性能日益不完善导致的泄漏功率不断增加。栅极泄漏与栅极氧化物厚度成反比，这一问题变得越来越重要。

转向FPGA可被视为高性能计算公司的低功耗解决方案，降低FPGA功耗有诸多重要原因。功耗与温度直接相关，改进的FPGA实现对整个系统的电源设计有直接好处，可降低系统成本、减少组件数量、缩小PCB面积并降低热管理成本。系统可靠性与散热问题相关，较低的功耗可延长芯片使用寿命。例如，Xilinx指出设备工作温度降低10°C可使组件寿命延长2倍。

2. 功耗来源

CMOS技术的功耗分为静态功耗和动态功耗。静态功耗是电路开启但不处理数据时消耗的功率，动态功耗是芯片积极处理数据时的功耗。
- 静态功耗组成 ：
- 栅极泄漏 ：从栅极流向衬底的电流。
- 源漏泄漏（亚阈值电流） ：即使器件被认为处于关闭状态（栅源电压VGS小于晶体管阈值电压Vt），仍在沟道中从漏极流向源极的电流。
- 反向偏置