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原创 核磁共振（NMR）如何检测环境污染物？

核磁共振（NMR）波谱是一种强大的分析技术，已广泛应用于化学、生物学和材料科学等多个领域。它能够提供分子结构、动力学和相互作用的详细信息，使其成为检测和表征环境污染物的宝贵工具。图 1. 采用核磁共振波谱法在氯仿中分析样品的核磁共振谱图。

原创 厦门大学JACS：原位拉曼光谱（In-situ Raman）揭示界面水在二氧化碳电还原制备C₂产物过程中的多重作用

原位拉曼光谱在-0.6 V检测到*CO中间体（2000-2100 cm-1）及其表面覆盖度增加的特征信号（278 cm-1和359 cm-1），同时发现*OCCO(H)（1450 cm-1和2060 cm-1）和*OCHCH2（527 cm-1）等C2+中间体，证实*CO的二聚是C2产物生成的关键步骤。在CO2RR中氧化预处理会导致C2+选择性的改变，而界面水中K-H2O含量变化与之呈正相关，特别值得注意的是，K-H2O的Stark斜率随电还原中出现的拐点和C2+产物生成的变化也有相同的趋势。

原创 低温核磁共振（NMR）探针如何提高低浓度样品的灵敏度

核磁共振（NMR）是化学、生物化学和药物科学等领域用于分子结构和动力学表征工具之一。然而，其固有的低灵敏度通常需要较大的样品体积（>200 μL）和较高的浓度（蛋白质>0.5 mM），导致采集时间过长，限制了其在质量有限或稀释样品中的应用。近年来，低温探针（cryogenic probe）等高灵敏度技术的应用显著提升了NMR的信噪比，从而突破了传统对高浓度和大体积样品的依赖，使得从毫摩尔甚至微摩尔级样品中采集高质量谱图数据成为可能。本文探讨了低温核磁共振探针的原理、实现、优势、局限性和实际应用。

原创 粉末颗粒大小对X射线光电子能谱（XPS）测试的影响

Ｘ射线光电子能谱仪（XPS），是一种强大的表面分析技术，其灵敏度高、分辨率高、破坏性小、制样简单，能分析除H和He以外的所有元素，广泛应用在半导体材料、高分子材料、催化材料、冶金、腐蚀等领域。它采用Ｘ射线激发原子或分子的内层电子或价电子。激发出的光电子具有特定能量，经能量分析器获得光电子能量和光子强度之间的关系，从而实现材料表面的定性或者半定量的分析。此外，结合离子刻蚀或角分辨还可实现对材料的深度分析和界面分析、以及价带等电学性质分析。XPS的理论基础是爱因斯坦光电效应。X射线入射到固体样品，产生相互作用，

原创 半导体参数分析系列——如何实现 fA 级超低电流测试

例如，在 SMU 的 1nA 限制量程上测量 fA 级电流是没有意义的尝试，因为要得到好的 fA 测量结果， SMU 需要降到 10 pA 量程。作为一般规则，为得到满意的测量结果，越低的测量量程需要越长的积分时间，因为在测量小的电流和电压时，噪声成为更严重的问题。使用半导体参数系统实现低电流(fA 级甚至亚 fA 级范围)测量，常常需要考虑以下问题：接地和屏蔽问题，减少系统噪声，去除寄生漏电流，选择适宜的测量设置参数，选择正确的测量量程/积分时间/保持时间，执行校准和 SMU 调零等。

原创 国信中业—Zeta电位原理、样品要求及结果展示

对于折光指数差较大的样品，譬如TiO2粒子的水性悬浮液，TiO2的折光指数为2.5，与水的折光指数差较大，有较强的散射能力。如果过滤和离心比较麻烦，可以让样品自然沉淀，使用上清液中留下的小粒子来检测，也是比较好的方法。如果样品的浓度过高，则激光将会由于样品的散射衰减很多，相应的降低检测到的散射光光强。最终，样品的浓度范围必须由测定不同浓度下的Zeta电位的试验决定，由此来得到浓度对Zeta电位的影响。一般情况下，Zeta电位仪直接测定的是电泳迁移率，并转化为Zeta电位，Zeta电位是通过理论推导出来的。

原创 X射线光电子能谱(XPS)在材料科学研究中的应用、特点、常见问题及解决办法

即一定能量的x射线（常用的射线源是 MgKa-1253.6eV或AlKx-1486.6eV）照射到样品表面，和待测样品的表层原子发生作用，当光电子能量大于核外电子的结合能时，可以激发待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。光电子从样品表面逸出的深度与该电子的动能有关，当样品表面垂直于分析器时，电子的逃逸深度为d，改变样品表面与入射光束间的角度，即可改变入射光的检测深度，使得检测深度变浅，这样来自最表层的光电子信号相对较深层的会大大增强。通过对某个特定的元素进行精细谱的扫描，就可得知该元素所处的化学环境。

原创 国信中业—X射线光电子能谱（XPS）：常见元素结合能表

要精准解读XPS谱图，一本权威、好用的《元素结合能表》就是不可或缺的工具。它不仅是元素鉴别的“对照表”，更是解读化学态变化的“密码本”。在材料科学、催化化学等领域的微观世界探索中，X射线光电子能谱（XPS）一直是研究人员揭示材料表面秘密的一把“金钥匙”。

原创 傅里叶变换红外光谱（FT-IR）测试与分析

傅里叶变换红外光谱 (FTIR)是一种功能强大的分析技术，广泛应用于各个行业，用于识别化合物、评估材料性能和研究分子间相互作用。傅里叶变换红外光谱（FTIR）是一种强大的分析工具，能够提供各种物质化学组成和分子结构的详细信息。凭借其广泛的应用，FTIR光谱在聚合物、制药、环境分析、食品饮料和生物医学研究等行业的质量控制、研发中发挥着至关重要的作用。通过利用傅里叶变换红外光谱（FTIR）技术，研究人员可以确保产品质量、安全性和合规性，从而推动各自领域的创新并增进知识。样品吸收特定波长的红外光，从而产生光谱。

原创 国信中业—原位红外（in-situ FTIR）：原位漫反射DRIFTS和原位红外ATR

的工作原理与传统FTIR相同，即红外光束穿过样品，吸收的能量会形成与样品内部分子振动相对应的独特光谱。随着科学技术的不断发展，原位DRIFTS的应用前景也十分广阔，未来，它有望在更多的领域中发挥重要作用，为解决更多的科学问题和实际应用难题提供有力的支持。（二）ATR衰减全反射原位红外光谱探究了甲酸氧化反应过程催化剂表面的产生的中间体物种，揭示PdH纳米立方体催化表面氢化物覆盖度和催化性能的构效关系。配置原位漫反射附件和高温原位反应池等附件，可实现高温、电催化、特定气氛下的热催化和光催化等实验；

原创 透射电子显微镜（TEM）在石墨烯层数与结构表征中的应用

图 1（b）是 AB 堆垛的双层 石墨烯的高分辨晶格像，图 1（d）是相应的选区电子衍射斑点，图 1（e）上方 对应的是图 1（d）中两个衍射斑点的强度线，次内层衍射斑点的强度约为最内层衍射斑点的 2 倍，由此可判断石墨烯样品为双层。图 4（a）是石墨烯样品的高分辨晶格像，图 4（b）是图 4 （a）中蓝线方框区域石墨烯层暗线垂直方向的强度线谱图，测得 4 个强度峰的 总宽度 W 为 1.35 nm，计算出单个强度峰的平均宽度为 0.375 nm，即石墨烯的单 层厚度 dg 为 0.3375 nm。

原创 傅里叶红外光谱法（FT-IR）：衰减全反射（ATR）模式原理、特点、制样要求

由于绝大多数有机物的折射率在 1. 5 以下，因此根据 n1 ＞ n2 要求，要获得衰减全反射谱需要试样折射率大于 1. 5 的红外透过晶体，常用的 ATR 晶体材料有: KSR-5、锗( Ge) 、氯化银( AgCl) 、溴化银( AgBr) 、硅( Si) 等，尤以前两种应用最多。ATR 技术适用于测定固体和液体的吸收谱，对于固体样品，要求被测面光滑，使之能与全反射晶体的反射面紧密接触，因此不适合多孔样品及表面粗糙的样品的测定。实际上，红外辐射被样品表面反射时，是穿透了样品表面一定深度后才反射出去的。

原创 原位红外（in situ FTIR）光谱：从技术突破到反应机理研究

为实现高效CO2 捕获与固定，该团队选择支链聚乙烯亚胺（PEI）浸渍多壁碳纳米管（CNT）制备吸附剂，通过测定不同气体混合物下的CO2 容量与循环吸附性能，结合吸附等温线测定、吸附能和扩散系数计算以及in situ FTIR表征，系统研究了CO2 、H2 O和O2之间的竞争吸附机制（图3）。本文简述了原位红外光谱的发展历程，重点介绍了其在催化剂反应机理、吸附剂吸附机制、材料结构与功能关联及电化学反应机理研究中的应用，以期为相关领域研究者提供技术参考，助力反应机制解析与过程调控精准化发展。

原创 国信中业—原位XPS（In-situ XPS）将“反应”和“测试”同步进行

对于Bi-TiOx样品，光照下O 1s和Ti 2p的结合能增加，而Bi 4f的结合能降低，表明TiOx表面上的光生电子在光催化过程中会转移到Bi位点。光照下Pt/Bi-TiOx的O 1s和Ti 2p离子结合能的增加远大于Bi-TiOx的结合能（图a，b），表明更多的光诱导电子从TiOx转移到Pt1Bi合金。XPS是一种常见的表面分析技术，广泛应用于材料表面元素及电子结构的表征，尤其是被用于催化领域的研究而言，目前XPS已经成为了研究催化材料表面组成和化学状态的主要方法之一。cd)SnO2的ISI-XPS;

原创 原位红外（in situ FTIR）光谱：从技术突破到反应机理研究

为实现高效CO2 捕获与固定，该团队选择支链聚乙烯亚胺（PEI）浸渍多壁碳纳米管（CNT）制备吸附剂，通过测定不同气体混合物下的CO2 容量与循环吸附性能，结合吸附等温线测定、吸附能和扩散系数计算以及in situ FTIR表征，系统研究了CO2 、H2 O和O2之间的竞争吸附机制（图3）。本文简述了原位红外光谱的发展历程，重点介绍了其在催化剂反应机理、吸附剂吸附机制、材料结构与功能关联及电化学反应机理研究中的应用，以期为相关领域研究者提供技术参考，助力反应机制解析与过程调控精准化发展。

原创 国信中业—原位XPS（In-situ XPS）将“反应”和“测试”同步进行

对于Bi-TiOx样品，光照下O 1s和Ti 2p的结合能增加，而Bi 4f的结合能降低，表明TiOx表面上的光生电子在光催化过程中会转移到Bi位点。光照下Pt/Bi-TiOx的O 1s和Ti 2p离子结合能的增加远大于Bi-TiOx的结合能（图a，b），表明更多的光诱导电子从TiOx转移到Pt1Bi合金。XPS是一种常见的表面分析技术，广泛应用于材料表面元素及电子结构的表征，尤其是被用于催化领域的研究而言，目前XPS已经成为了研究催化材料表面组成和化学状态的主要方法之一。cd)SnO2的ISI-XPS;

原创 X射线光电子能谱(XPS)主要功能与常见表面成分分析技术对比

电子枪：用XPS测定绝缘体或半导体时，由于光电子的连续发射而得不到足够的电子补充，使得样品表面出现电子“亏损”，这种现象称为“荷电效应”。用一束具有一定能量的X射线照射固体样品，入射光子与样品相互作用，光子被吸收并将其能量转移给原子的某一壳层上被束缚的电子。此时电子把所得能量的一部分用来克服结合能和功函数，余下的能量作为它的动能而发射出来，成为光电子，这个过程就是光电效应。由于光电子携带样品的特征信息（元素、化学态信息等），通过测量逃逸光电子的动能，就可以表征出样品中的元素组成和化学态信息。

原创 电子背散射衍射（EBSD）原理、技术特点、应用及样品要求

虽然X射线衍射技术适用于大批量的宏观区域织构分析，统计性好，但其无法将晶体结构和取向信息与微观组织相对应，微区分辨率较低，也不能区分成分相近但晶体结构不同的显微组织的物相信息，更无法测得单个晶粒的取向信息，不能将显微组织与结晶学分析相结合 ，这也是传统分析方法在研究晶体结构与取向信息方面存在的局限性。反观透射电子衍射技术，由于其对制样的要求极高，样品中可以观察到的晶粒数目相对较少，与整体试样相比，获得的晶体结构等信息比较局限，对后期材料制定加工工艺不利。根据衍射花样的质量可定性评价应变的大小。

原创 Zeta 电位测量方法解析

Zeta 电位是表征颗粒在液体分散体系中电荷状 态的关键参数，反映颗粒的静电稳定性以及颗粒 间相互作用的强度。它不仅可以衡量颗粒之间的排 斥力或吸引力，还揭示颗粒表面的电荷密度， 对 于理解颗粒在分散体系中的稳定性机制具有重要意 义。研究颗粒稳定性的响应机制，需要考虑不同 浓度、pH 值、离子强度和温度等因素的影响。 Zeta 电位作为衡量颗粒间互相作用力的重要参数， 受到静电排斥力、范德华吸引力以及位阻效应等多 种因素的影响，已经成为评估体系稳定性的关键指 标。一般来说，粒子的 Zeta 电位为正或负且数

原创 拉曼光谱（Raman）表征可以得到哪些信息？

直接证明3.06 eV是12层CrBr3的共振激发能量：仅在此能量下，电子-声子耦合效率显著提升，激发专属共振声子模式（Eg4），且不同声子模式的强度响应差异反映激发能量对拉曼散射选择性的调控。在完成基线校准后，可以对谱图中的峰进行识别。在一定浓度范围内，拉曼峰的峰面积/峰高与样品中对应组分的浓度呈线性关系（朗伯-比尔定律的延伸），通过校准曲线可定量计算各成分的含量。即使分子式相同的异构体（如顺反异构体、同分异构体），因分子骨架的空间构型不同，振动模式存在差异，拉曼峰的峰位、峰形会显著不同。

原创 XPS常规测试中，增加扫描次数，测试结果就会越准确吗？

因此随着扫描次数的增加，原本被噪声掩盖的弱峰（如微量元素的特征峰、化学态分裂峰）会清晰显现。这类样品中，X射线的 “辐照效应” 会。扫描次数需“够用即止”，优先保证数据反映样品本征状态，避免过度扫描导致失真；可先对 “易变元素的关键峰”进行快速扫描，再采集 “稳定元素的峰”。，提升谱图信噪比（S/N），进而从 “定性识别” 和 “定量精度” 两方面优化准确性。，此时 “增加扫描次数” 虽能提升信噪比，却会导致数据失真，准确性反而下降。XPS测试中“扫描次数”的选择，本质是“信噪比需求”与“样品稳定性”的。

原创 接触角测量仪原理及测试方法

液滴的图像可利用相机记录下来，并在分析软件中通过对液滴的轮廓进行拟合，可分析得出液滴在固体表面的接触角或计算得出液体的表面张力。接触角在0°和90°之间，固体是可润湿的，90°以上是不可湿的。(Drop shape analysis, DSA)是一种从水滴的图像确定接触角，从悬滴的图像确定表面张力或界面张力的图像分析方法。最终根据密度差∆ρ和计算液体表面张力。固体的表面能是研究润湿性和附着力之间的相互作用，同一固体表面接触不同极性的液体其接触角也不同，因此表面能通常是借助几种液体的接触角间接计算得到的。

原创 国信中业—飞秒瞬态吸收光谱（TAs）系统

3. 宽带超连续探测（probe）光：覆盖UV 350-650 nm、VIS 450-780 nm、NIR 820-1600 nm波段。6. 适配测试样品：二维层状材料（WS2、MoS2等）、大面积二维范德华异质结、半导体薄膜/块体、钙钛矿光电材料、有机光电薄膜等。8. 适配测试样品：二维层状材料（WS2、MoS2等）、二维范德华异质结、微纳光电器件、微纳尺度光电材料等。2. 可调谐泵浦（pump）光：经光学参量放大器（OPA）输出，320-2400 nm。

原创 半导体参数分析系列——如何实现 fA 级超低电流测试

例如，在 SMU 的 1nA 限制量程上测量 fA 级电流是没有意义的尝试，因为要得到好的 fA 测量结果， SMU 需要降到 10 pA 量程。作为一般规则，为得到满意的测量结果，越低的测量量程需要越长的积分时间，因为在测量小的电流和电压时，噪声成为更严重的问题。使用半导体参数系统实现低电流(fA 级甚至亚 fA 级范围)测量，常常需要考虑以下问题：接地和屏蔽问题，减少系统噪声，去除寄生漏电流，选择适宜的测量设置参数，选择正确的测量量程/积分时间/保持时间，执行校准和 SMU 调零等。

原创 紫外光电子能谱（UPS）的原理及其在材料表面与界面研究中的应用

不过，元素的结合能会因受所处环境的影响而产生“化学位移”，“化学位移”本身可以反映出化学态的信息，这是XPS 的一个重要应用。采用 UPS 研究固体表面时，由于固体的价电子能级被离域的或成键分子轨道的电子所占有，从价层能级发射的光电子谱线相互紧靠，因价电子能级的亚结构、分子振动能级的精细结构等叠加成带状结构，因此得到的光电子能量分布并不直接代表价带电子的态密度，而应包括未占有态结构的贡献，即受电子跃迁的终态效应影响，如自旋-轨道耦合，离子的离解作用，Jahn-Teller 效应，交换分裂和多重分裂等。

原创 国信中业—原位透射电子显微镜（in-situ TEM）样品杆解析：加热/气氛/液相样品杆到MEMS创新

透射电子显微镜（TEM）在材料形貌、结构的表征中发挥着重大作用，是我们研究和表征材料不可或缺的重要工具之一。原位透射电子显微镜（in-situ TEM）技术的发展使得在原子尺度上实时动态观察物质在热、电、气、压力和液体等外部条件作用下的微结构演化成为可能，实现了在TEM内部对物理和化学反应的动态、实时原位观测。原位透射电子显微镜（in-situ TEM）技术通过研究物质在外界环境作用下的微结构演化规律，揭示其原子结构与物理化学性质的相关性，指导其设计合成和微结构调控，促进新物质的探索和深层次物质结构研究，为

原创 国信中业自营—B1500半导体分析仪、高温探针台系统

原创 光电光谱、原子层沉积（ALD）、B1500半导体分析仪、高温探针平台、电子束曝光（EBL）、飞秒瞬态吸收光谱（TAs）、原子力显微镜（MFP‑3D）

光电模块：光谱模块：热ALD（Thermal ALD）系统等离子体增强ALD（PEALD）系统Helios模块微区模块：核心硬件模块关键配套组件

原创 真空高低温探针台测试系统，温度范围-196℃-400℃

原创 半导体—光电光谱综合测试系统

一、光电模块：二、光谱模块：

原创 原子层沉积(ALD)系统—半导体产业制备高性能薄膜不可或缺的技术之一

2. 工艺与可生长薄膜。2. 工艺与可生长薄膜。

原创 单晶多晶的电子衍射标定

严格来说，单晶就是具有完整晶体外形（晶棱，晶面完备）的单个颗粒，颗粒内部的晶格是周期排列，如果从任意晶带轴投射，那么得到的必然是二维衍射点，而多晶呢，就是一个颗粒里面有多个晶粒，每个晶粒的晶格都是周期性排列的，但这些晶粒的取向都是随意的，这样一个晶粒产生一些衍射点，衍射点出现在晶格对应的d值为半径的圆上，多个晶粒有不同取向，就会慢慢形成多个点连成的一个圆，选区范围内的颗粒含的晶粒越多，那么这个圆就越平滑。如果是纯相，测量每个环对应的半径，得到d值，那么这个和衍射峰对应的d值应该是相同的。

原创 X射线光电子能谱（XPS）部分元素的灵敏度因子（RSF）表

（Relative Sensitivity Factor, RSF）用于将测得的光电子峰强度转换为原子浓度，实现半定量分析。（即单色化Al Kα X射线源，能量为1486.6 eV）进行X射线光电子能谱（XPS）分析时，，主要基于文献和提供的数据，并以。根据权威公开资料，以下是。

原创 X射线光电子能谱(XPS)样品制备

直接用压片机压成小片，用模具缺点：压片机的模具需要每次擦拭，样品表面难免会污染），直接上下用称量纸覆盖样品压片。将样品滴在硅片/云母片（反复多滴几次，干燥，均匀覆盖基体），用双面胶（普通/导电胶）直接粘在样品台上。注：XPS是表面分析仪器，送样品时注意用称量纸包裹或者用一次性的离心管，尽量不要污染样品。：样品本身含有C元素的，尽量让测试老师用普通双面胶，防止因双面碳导电胶上的碳，造成困扰。一、直接将粉末样品粘在双面碳导电胶或者普通双面胶,样品量2mg。直接压片的压片机图，样品是示意图。

原创 锂电池原位表征的五个关键技术

最后，讨论了锂电池研究中可以通过原位技术获得收益的一些瓶颈问题，包括高能量密度正极材料的不均一性反应，开发高安全性的锂负极材料和稳定的界面膜等问题。这可以通过原位表征技术得以实现，具体而言可以通过电池反应过程中的电极材料的结构转变，氧化还原过程，固液界面形成，副反应的发生和锂离子传输特性等信息有所反应。▲图26. a 原位观测在 HOPG 表面 SEI 生成构成 b 有图案硅电极表面在循环过程总高度和宽度的演变。在过去的十几年原位技术发展迅速，在表征材料结构，形貌和化学特征等方面提出了很多新的方法。

原创 国信中业-原位SEM（in-situ SEM）云视频，打通科研仪器远程访问的“最后一公里”

他们在氩气保护气中将样品 (Cu|LiPON/LATP片/LiPON|Li) 安装在电化学SEM样品台中, 并在铜片上设置了一个孔, 以便于SEM观测, 如图6(a)所示. 在初始电位峰区域观察到平坦的初始样品表面上有小尺寸(≤ 1 µm)点状沉积, 表明初始电位峰来源于锂成核和生长过程(图6(b)和图6(c)). 在有沉积锂反应的电压升高区域, 观察到了沉积锂的横向增长, 即Li|LiPON粘结区域的增加。在电位稳定区域，沉积的锂沿垂直于LiPON表面的方向生长(图6(d)—(i))。

原创 飞行时间二次离子质谱法（ToF-SIMS）原理及案例应用解析

图 3. (a) 从所有分析帧生成的 52Cr+ 分布顶视图，(b) 从 16 μm2 的整个区域生成的 52Cr+ 分布侧视图，(c) 仅从检测到粒子的 32 帧生成的 52Cr+ 分布顶视图，(d) 仅从发现粒子的区域生成的 52Cr+ 分布侧视图，(e) FIB 二次电子图像，(f) 总光谱和粒子光谱的比较（检测到正离子）。与 EDS 和 WDS 等更传统的微分析技术相比，ToF-SIMS 具有诸多优势，包括更高的灵敏度和分辨率，以及能够检测 X 射线方法无法检测到的轻元素。

原创 拉曼光谱（Raman）在催化中的应用

他们的研究进一步表明，ZSM-5 和USY 分子筛上之所以形成了不同形式的积炭物种，其主要原因在于两种分子筛的孔结构以及表面酸性之间的差异，其中ZSM-5 的孔结构是导致不同积炭物种生成的主要原因：抑制了聚芳烃和类石墨的形成（ZSM-5 的择形效应）。总的来说，Raman光谱，特别是紫外拉曼，由于其高的灵敏度，且能够提供催化剂本体和表面上物种的结构信息，且样品制备简单，不受水等因素的干扰，在催化反应中有广泛的应用。XRD用于物相分析大家都很熟悉，但是有的时候，它也存在一定的缺陷，比如说薄膜样品。

原创 红外分析口诀

2960、2870是甲基，2930、2850亚甲峰。1600、1400酸根展，1630、1510碳氢弯。间二取代出三峰，700、780，880处孤立氢。氨基酸，成内盐，3100～2100峰形宽。N－H变形酰胺II，1600分伯仲。仲胺盐、叔胺盐，2700上下可分辨，亚胺盐，更可怜，2000左右才可见。化合物，有键偏，～1650会出现。C－O伸展吸收大，伯仲叔醇位不同。苯环若有甲氧基，碳氢伸展2820。次甲基二氧连苯环，930处有强峰，酸酐也有C－O键，开链环酐有区别，胺尖常有干扰见，N－H伸展三千三，

原创 高效液相色谱（HPLC）流动相选择

当化合物只有氨基时，缓冲体系的选择十分简单，大多数氨基化合物在pH值小于9时都被质子化，所以所有pH值在7或更低的溶液均适合应用，你也许会问水的pH值大约是7，为什么还用缓冲盐，因为缓冲盐有助于增加方法的可靠性，以及色谱峰的尖锐性，pH值的降低有助于氨基化合物保留的减弱，减小化合物与硅胶表面硅羟基的作用，而使峰更尖锐，任何缓冲液均可应用于氨基化合物的分析，但我们认为pH值等于3的磷酸钾盐最适合用于氨基化合物的分析。此外，卤代溶剂(如，CH2Cl2)与一些反应性有机溶剂(如，乙腈)混合静置时，还会产生结晶。