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RSS订阅原创 芯片的DVS（Dynamic Voltage Scaling）测试概述
DVS（Dynamic Voltage Scaling）测试是芯片验证中的关键环节，主要用于评估芯片在不同电压下的动态性能、功耗及稳定性。通过调整供电电压，验证芯片在电压波动时的行为是否符合设计预期。DVS测试优势与EVS相比，DVS能够模拟真实工作场景，实现电压在min<-->max之间动态变化；测试效率高，将测试时间缩短至几个小时；能够捕捉动态失效。
2025-12-23 11:58:53
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原创 芯片的老化测试
（Static Burn-in）是在高温环境下对芯片施加恒定电压或电流，但不运行实际功能。芯片处于静态工作状态，仅保持通电。（Dynamic Burn-in）则在高温环境下同时施加电压和运行芯片的实际功能或测试模式，模拟真实工作负载。
2025-12-22 18:14:45
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原创 Htol&burnin的原理
浴盆曲线（Bathtub Curve）是一种描述产品、设备或系统故障率随时间变化的典型曲线，因其形状类似浴盆而得名。该曲线广泛应用于可靠性工程和寿命数据分析中，用于预测和管理产品的故障模式。
2025-12-22 15:06:35
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原创 ATPG fault 类型
摘要：本文介绍了ATPG中的故障分类及检测方法。主要分为可测故障(TE)和不可测故障(UT)。TE包括隐含检测(DI)、仿真检测(DS)和可能检测(POSDET)；不可测故障包括ATPG不可测(AU)、未控制(UC)/未观测(UO)和终止故障(AAB)。UT包括未使用(UU)、固定(TI)、阻塞(BL)和冗余(RE)故障。文章还讨论了影响故障检测的因素，如约束条件、非扫描单元和时钟时序深度等，并提供了调整abortlimit来优化故障检测的方法。
2025-12-22 14:54:25
679
空空如也
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