固态硬盘SSD学习笔记:闪存

本文详细探讨了闪存的物理结构,包括闪存原理、SLC、MLC、TLC的不同,以及闪存芯片的架构。讨论了读、写、擦操作的原理,并阐述了闪存的特性,如坏块、读干扰、写干扰、存储单元间的耦合、电荷泄露和寿命问题。通过对闪存内部运作的解析,揭示了固态硬盘在处理闪存时面临的挑战及应对策略。
摘要由CSDN通过智能技术生成

一. 闪存物理结构

固态硬盘的工作原理很多是基于闪存特性的。比如闪存在写之前必须先擦除,不能覆盖写,于是固态硬盘才需要垃圾回收;闪存每个块擦写次数达到一定值后,这个快要么变成坏块,要么存储在上面的数据不可靠,所以固态硬盘固件必须做磨损平衡,让数据平均写在所有块上,而不是盯着几个块拼命写(不然盘很快就废了)。还有很多例子,固态硬盘内部很多算法都是在为闪存服务。

1.1 闪存原理

闪存是一种非易失性存储器也就是掉电了数据也不会丢失。闪存基本存储单元(cell)是一种类NMOS的双层浮栅(Floating Gate)MOS管。
在这里插入图片描述
在源极(Source)和漏极(Drain)之间电流单向传导的半导体上形成存储电子的浮栅,浮栅上下被绝缘层包围,存储在里面的电子不会因为掉电而消失,所以闪存是非易失性存储器。
写操作是在控制极加正电压使电子通过绝缘层进入浮栅极擦除操作正好相反,是在衬底加正电压,把电子从浮栅极中吸出来。
在这里插入图片描述

1.2 SLC、MLC、TLC

一个存储单元存储1bit数据的闪存,我们叫它为SLC(Single level cell),存储2bit数据的闪存为MLC(Multiple level cell),存储3bit数据的是TLC。还有厂商在研发QLC。
闪存芯片里面存储单元的阈值电压分布函数横轴是阈值电压纵轴是存储单元数量。其实在0或1的时候,并非所有的存储单元都是同样的阈值电压,而是以这个电压为中心的一个分布。读的时候采样电压落在1范围里,就认为是1;落在0范围就认为是0。
SLC电压分布:

擦除之后,闪存读出来的值为1,充过电之后,就是0。所以,如果需要写1,就什么都不用干;写0,就需要充电到0。
对MLC来说,如果一个闪存单元存储4个状态,那么它只能存储2bit的数据。通俗来说就是把浮栅极里面的电子个数进行一个划分,比如低于10个电子判0;11-20个为1;21-30个为2;多余30个为3。
MLC电压分布:
在这里插入图片描述
以此类推,TLC若是一个存储单元有8个状态,可以存3bit的数据:
在这里插入图片描述
同样一个面积的存储单元,SLC, MLC, TLC分别可以存1b, 2b, 3b的数据,所以在同样面积的DIE上,闪存容量依次变大。
同时,一个存储单元电子划分得越多,写入的时候&#

  • 3
    点赞
  • 20
    收藏
    觉得还不错? 一键收藏
  • 2
    评论
评论 2
添加红包

请填写红包祝福语或标题

红包个数最小为10个

红包金额最低5元

当前余额3.43前往充值 >
需支付:10.00
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明:

1.余额是钱包充值的虚拟货币,按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载,可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值