内存测试用例memtester4.3.0

[root@sylixos:/root]# free
heap show >>

     HEAP         TOTAL      USED     MAX USED  SEGMENT USED
-------------- ---------- ---------- ---------- ------- ----
kersys          1302549KB   305619KB   306644KB    1988  23%

vmm physical zone show >>

ZONE     PHYSICAL         SIZE     PAGESIZE       PGD        FREEPAGE  DMA  USED
---- ---------------- ------------ -------- ---------------- -------- ----- ----
   0         b1700000      3400000     1000         90e88000    10900 true   18%
   1         b4b00000     26500000     1000         90e88000   156765 false   0%
   2       2000000000    180000000     1000         90e88000  1572864 false   0%

ALL-Physical memory size:  8104MB
VMM-Physical memory size:  6809MB
VMM-Physical memory free:  6798MB
[root@sylixos:/root]# 

free命令可得内存最大可用6798MB，./memtester 第一个参数表示测多大内存（单位可以是G、M、K、B），第二个参数表示测试次数。
（测试内存大小建议是VMM-Physical memory free大小的40%）
测试结果：

memtester-4.3.0	memtester-ARM
int test_stuck_address(bufa, count);	（√ ） 先全部把地址值交替取反放入对应存储位置，然后再读出比较，重复2次（官网的重复了16次）：测试address bus
int test_random_value(bufa, bufb, count);	（√ ）等效test_random_comparison(bufa, bufb, count)：数据敏感型测试用例
int test_xor_comparison(bufa, bufb, count);	（-） 与test_random_value比多了个异或操作，用户场景之一，用例覆盖。数据敏感/指令功能验证，同时可验证SAF；
int test_sub_comparison(bufa, bufb, count);	（-）与test_random_value比多了个减法操作，用户场景之一，用例覆盖。数据敏感/指令功能验证，同时可验证SAF；
int test_mul_comparison(bufa, bufb, count);	（-）与test_random_value比多了个乘法操作，用户场景之一，用例覆盖。数据敏感/指令功能验证，同时可验证SAF；
int test_div_comparison(bufa, bufb, count);	（-）与test_random_value比多了个除法操作，用户场景之一，用例覆盖。数据敏感/指令功能验证，同时可验证SAF；
int test_or_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）在test_random_comparison()里面合并了，用户场景之一，用例覆盖。数据敏感/指令功能验证，同时可验证SAF；
int test_and_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）在test_random_comparison()里面合并了，用户场景之一，用例覆盖。数据敏感/指令功能验证，同时可验证SAF；
int test_seqinc_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）这是 test_blockseq_comparison的一个子集；模拟客户压力测试场景。
int test_solidbits_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）固定全1后写入两个buffer，然后读出比较，然后全0写入读出比较；这就是Zero-One算法，Breuer & Friedman 1976 ，检测SAF的，算法是{w0,r0,w1,r1}时间复杂度是4N，又叫做MSCAN，验证每个cell能读写，间接测试了stuck at fault
int test_checkerboard_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）把设定好的几组Data BackGround，依次写入，然后读出比较 （注：论文里说设计良好的Data background可以检测出state coupling faults时间复杂度是4N，这是验证相邻位置是否互相影响从而设计的用例。
int test_blockseq_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）一次写一个count大小的块，写的值是拿byte级的数填充32bit，然后取出对比，接着重复256次；也是压力用例，只是次数变多了；
int test_walkbits0_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）就是bit=1的位置在32bit里面移动，每移动一次就全部填满buffer，先是从低位往高位移，再是从高位往低位移动，(这么做的目的是啥？其中的一个目的是检测NPSF其次是CFs，其次是数据敏感型异常检测，注这里是32bit的，还有8bit的粒度更细了)
int test_walkbits1_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）与上同理，另注：早memtester86中这个算法叫做moving inversions algorithm
int test_bitspread_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）还是在32bit里面移动，只是这次移动的不是单单的一个0或者1，而是两个1，这两个1之间隔着两个空位，（是临近耦合异常的一种data pattern变体：两个1之间间隔1个位置，然后同步移动）
int test_bitflip_comparison(bufa, bufb, count);	（√ ）也是32bit里面的一个bit=1不断移动生成data pattern然后，每个pattern均执行：｛取反交替写入a、b缓冲区，写完之后检查一遍，然后不断重复以下步骤八次｛用八个DMA从a缓冲区搬数据到b缓冲区，并行搬，模拟短时间内反复读写同一位置看是否有数据丢失异常｝｝核心思想：短时间内反复读写同一位置。
int test_8bit_wide_random(bufa, bufb, count）;	（√ ）以char指针存值，也就是每次存8bit，粒度更细；
int test_16bit_wide_random(bufa, bufb, count);	（√ ）以unsigned short指针存值，也就是每次存16bit，不同粒度检测；
int test_crosstalk_comparison(bufa, bufb, count);	[32个0,接着32bit里面1个0移动]以这样的模型叠加写入内存；（只有上行，没像有moving inversions algorithm一样进行反转）