蓝桥杯学习记录
一、测试练习:
问题名称:芯片测试
问题描述:
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式:
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式:
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入:
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出:
1 3
解题思路:
题目说好的芯片数目多,那么只需要按列遍历数组,如果为1的数量大于等于一般则为好芯片。
代码:
#include <iostream>
using namespace std;
#include <vector>
#include<algorithm>
int main()
{
int n;
cin>>n;
int dic[n][n];
vector<int>v;
for(int i = 0; i < n; i++)
for(int j = 0; j < n; j++)
cin>>dic[i][j];
for(int j = 0; j < n; j++)
{
int cot = 0;
for(int i= 0; i < n; i++)
{
if(i != j && dic[i][j] == 1)
cot++;
}
if(cot >= n/2)
cout<<j+1<<" ";
}
}