一文讲透算法中的背包问题


前言

对于学习算法的小伙伴来说,背包问题是绕不过去的一道槛,针对常见的背包问题,结合自身学习过程中遇到的感悟,总结了常见背包问题的种类和变形,给出了相关的代码实现~


一、背包问题种类

在这里插入图片描述

二、背包问题算法模板

1.01背包问题

f(i, j) 表示从前 i 种物品中选择且总体积不超过 j 的方案
属性:max 价值

for (int i = 1; i <= N; i ++) {
	for (int j = 1; j <= V; j++) {
    	if (j < v[i]) {
        	f[i][j] = f[i - 1][j];
        }else{
            f[i][j] = max(f[i - 1][j], f[i - 1][j - v[i]] + w[i]);
        }
     }
}

一维写法:

for (int i = 1; i <= N; i ++) {   
    for (int j = V; j >= v[i]; j --) {    //需要用上一层的结果,由大到小枚举体积,这样来保证使用的上一层数据
        f[j] = max(f[j], f[j - v[i]] + w[i]);   // 保证了f[j-v[i]]是f[i-1][j-v[i]]的结果
    }
}

2.完全背包问题

// 所选物品没有个数限制
for (int i = 1; i <= N; i++) {
	for (int j = 1; j <= V; j ++) {
		for (int k = 0; k * v[i] <= j; k ++) {
			f[i][j] = max(f[i][j], f[i - 1][j - k * v[i]] + k * w[i]);   // 枚举选的个数
        }
    }
}

优化方法:公式规律

f[i][j]=	max(f[i-1][j],f[i-1][j-v]+w,f[i-1][j-2v]+2w,f[i-1][j-3v]+3w,...)
f[i][j-v]+w=max(		  f[i-1][j-v]+w,f[i-1][j-2v]+2w,f[i-1][j-3v]+3w,...)
    
f[i][j]=max(f[i-1][j],f[i][j-v]+w)
    
    
    
for (int i = 1; i <= N; i ++) {
	for (int j = 1; j <= V; j ++) {
		if (j < v[i]) {     
			f[i][j] = f[i - 1][j];
		} else {                                       
			f[i][j] = max(f[i - 1][j], f[i][j - v[i]] + w[i]);    // 当 j >= v[i]时,[j - v[i]]才会存在
		}
	}
}

一维写法:

for (int i = 1; i <= N; i ++) {
	for (int j = v[i]; j <= V; j ++) {   //使用的是本层的结果,由小到大枚举体积
    	f[j] = max(f[j], f[j - v[i]] + w[i]);
    }
}

3.分组背包问题

// 每组物品有若干个,同一组内的物品最多只能选一个
for (int i = 1; i <= n; i ++) {
	for (int j = 1; j <= m; j ++) {
		f[i][j] = f[i - 1][j];  //不选第i组中的物品
		for (int k = 1; k <= s[i]; k ++){  //选择第i组中的第k个物品,做一个比较
			if (j >= v[i][k]) {
				f[i][j] = max(f[i][j], f[i - 1][j - v[i][k]] + w[i][k]);  
            }
        }
    }
}

4.有依赖背包问题

​ 树形dp问题

5.多重背包问题1

// 所选物品有最大个数限制
for(int i = 1; i <= N; i ++) {
	for(int j = 1; j <= V; j ++) {
		for(int k = 0; k <= s[i] && v[i] * k <= j; k ++) {    //和完全背包相比多了一个最大个数的限制
			f[i][j] = max(f[i][j], f[i - 1][j - k * v[i]] + k * w[i]);
        }
    }
}

6.多重背包问题2

核心思想:二进制优化,将多重背包问题优化成01背包问题,有一说一挺妙的
比如说第i个物品有200个,二进制划分成 1,2,4,8,16,32,64,73 共八份,通过这八份选或不选可以组成0-200中的所有数

// a[i]表示体积,b[i]表示价值
int cnt = 0;
for (int i = 1; i <= n; i ++) {
	int v, w, s;
    cin >> v >> w >> s;
    int k = 1;
    while (k <= s) {
    	cnt ++;
        a[cnt] = k * v;
        b[cnt] = k * w;
        s -= k;
        k *= 2;
    }
   	if (s > 0) {
		cnt ++;
		a[cnt] = s * v;
		b[cnt] = s * w;
            
    }
}
n = cnt;

// 接下来01背包的过程省略

7.多重背包问题3

​ 单调队列优化背包问题

8.混合背包问题

01背包: f[i][j] = max(f[i-1][j], f[i-1][j-v]+w)
多重背包:f[i][j] = max(f[i-1][j], f[i-1][j-v]+w, f[i-1][j-2v]+2w,.....f[i-1][j-kv]+kv)
完全背包:f[i][j] = max(f[i-1][j], f[i][j-v]+w)


01背包和多重背包可以合并在一起当作多重背包处理,其中多重背包用二进制进行优化

9.二维费用背包问题

​ 二维费用问题实质上和一维费用问题没有任何区别,多一个维度表示新的限制罢了

10.求具体方案的背包问题

​ 1.循环倒过来

​ 2.dp过程中用一个新数组记录

11.求最优解方案数的背包问题

​ 状态表示:除了原有的 f(i, j),还需要 g(i, j) 表示 f(i, j) 达到最大值的方案数

​ 状态划分:第一类如果不选第 i 个物品达到最大值,则加上g(i-1, j) ;第二类如果选第 i 个物品达到最大值,则加上g(i-1, j-v)


总结

本文仅用于学习交流记录,欢迎各位小伙伴来讨论~
上述内容是大学期间在Acwing算法平台学习背包问题时的一些收获,与大家共同分享~

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### 回答1: ESD(Electrostatic Discharge,静电放电)是一种瞬时放电现象,通常是由人体或设备上积累的静电电荷引起的。一般来说,ESD会导致电子设备损坏或误操作,因此必须采取措施来避免ESD。 在设计,ESD保护应该开始于PCB的物理设计。一个好的物理设计将使ESD泄放的能量尽可能地均匀地分散到整个电路板上。这种物理设计包括有效的接地,涂覆和排列PCB层。同时,这也需要考虑到整个系统的电缆结构、机箱接地和隔离等因素,从而最大限度地提高整个系统的耐ESD能力。 此外,在设计电路时,还需要考虑到ESD保护措施。主要的保护措施包括使用可靠的ESD保护器件,如TVS器件、瞬变压抑器和热释电器件,以保护线路免受ESD的影响。此外,在设计输入、输出和供电接口时,还应该采用合适的线路过滤器和电容器,以进一步提高系统的ESD耐受性。 最后,测试是ESD保护设计的重要环节。ESD测试可以验证保护设计的有效性,并排除措施上的缺陷。通常,测试人员会使用标准ESD模拟器来模拟真实的ESD事件。在测试过程,应注意对设备进行预处理,如去静电和适当的人体模拟。此外,还应该制定合适的检验标准以确保测试的准确性和可重复性。 总之,ESD保护设计至关重要,因为它能够保护电子设备免受静电放电的损害。为了实现可靠的ESD保护,这需要考虑物理设计和电路设计,以及有效的测试工具。最后,只有将所有这些因素合理结合,才能实现有效的ESD保护设计。 ### 回答2: ESD(Electrostatic Discharge,静电放电)指的是在两个带有不同电荷的物体接触或者靠近时,电荷之间发生放电的现象。这种放电可以对各种电子元器件和电路造成损害,从而影响设备的性能和寿命。 ESD的原理可以通过三种方式传递:空气的放电、直接接触和电感耦合。在实际应用,ESD对硅芯片、存储器、晶体管等电子元件的损害是非常严重的,这些元件的特性和结构容易受到ESD的影响。 为了防止ESD对电子元件和电路的损坏,需要在设计采用一些专门的技术,比如在元器件和电路板上增加ESD保护电路、在设备外壳上增加处理工艺等。对于集成电路芯片而言,可以采用对基底和指的进行控制,以及在芯片电路设计过程合理选择元器件和适当布局等。 总之,ESD保护是电子元器件和电路设计非常重要的一环,需要采用针对性的技术来减缓和防止ESD对设备的影响,从而保证设备的长期稳定性和可靠性。 ### 回答3: ESD全程为静电放电,是由于静电在两者之间产生的高电压放电引起的电感和电容的相互作用。在现代电子系统,由于设备的电路越来越小,因此更容易受到静电干扰,人们不得不在设计考虑如何避免或降低这种静电干扰。本文将从ESD的原理出发,简要介绍如何在电路设计考虑防止ESD干扰。 ESD的产生是由于静电的积累导致的高电压放电,因此防止ESD干扰的基本原则是减小静电的积累。在电路设计,静电主要通过两个方面来进行干扰:一是直接放电干扰,即静电直接放电到电路,导致电路损坏;二是间接放电干扰,即静电放电到设备的金属外壳等部位,导致电磁场干扰影响电路的正常工作。因此,在设计,需要采用一些措施来减小这些干扰。 1. 选择合适的元器件:在元器件的选择上,要选择一些抗ESD干扰的元器件,如采用ESD保护二极管等,能够减小ESD对电路的影响。 2. 优化电路结构:在电路设计,要优化电路结构,减少电路间的交叉干扰,避免电路产生高电位差,这样能够减少静电的积累和ESD的辐射。 3. 采用ESD保护电路:在设计电路时,引入一些ESD保护电路,能够有效地减小ESD对电路的影响。例如采用Zener二极管、TVS二极管等保护电路。 在总体设计,需要综合以上措施,采用一些适合的方案来消除ESD对电路的干扰。同时,在实际使用,也需要对电路进行定期维护和检测,保证电路的正常运行。在电子技术的快速发展,ESD防护的问题只会越来越重要,只有对其进行深入的研究和应用,才能更好地保证电子设备的稳定运行。

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