首先测试文件有三个部分组成:pln,dec,pat
pln:为主程序文件,用来存放编写的代码文件
dec:为存放引脚定义的文件
pat:为存放pattern向量文件,一般用来执行function测试时使用
在写测试代码之前,首先要了解测试芯片的手册
当然还需要查阅Electrical Characteristi查看各种参数比如VOH,VOL之类,我们这里只做OS测试所以就不展示了。
DEC编写
首先要写的就是dec的设定,对于各个引脚的对应关系,如上图所示,一共20个引脚,除了接地引脚,其余的接上我吗要使用的测试机的slot上。
这里我用的事slot1
一共四列分别是SITE,S0,PIN NUM,PIN TYPE
分别代表芯片的引脚名字定义,测试机slot对于引脚编号,芯片的引脚编号,和定义的引脚类型
除此之外,还要将需要测试的引脚进行分组方便调用,以上内容写在PIN_GROUP里
我将所有的IO口全部分到一个组里,方便后续的OS测试调用
我们写代码的主要思路源自于OS的测试理论如图所示
对源测试,给DUT灌入一个微弱的电流,具体数值可以从手册上找,这里我发现基本上都是100uA,因为这里是灌入一个电流对于PMU来说属于流出去,所以这里是+100uA
再用pmu测试该引脚的电压,判断其测量电压是否为一个二极管的压降你具体可以设置上下限,如图所示在0.2到1.5之间,这个范围可以适当缩小,实际上我测试的电压基本在0.65V左右,所以设置的电压可以再精准一些。
这里使用的是并测,因为我们测试场的设备都已经很高级了
具体如下图所示
DC 的OS测试
power off 函数关闭所有的relay
对地的测试同上,只需把灌入电流改成拉出电流,并且改变所设置的电压范围为负的范围
function OS 测试
在进行function测试就需要使用到pattern向量。
代码依据:
同上面的DC测试基本没什么区别,只是不能使用PPMU来测试,这里我梦使用的事PEC,这里我们只需要设置好输出的电压范围,这里需要使用的事如下函数,具体的使用方法查阅manual
PIN_MODE(IO_ALLPINS, NRZ, EDGE, ENABLE, IO_NRZ, ON);
pattern:
下面的数字对应着HEADER所对应的顺序,比如第一个X对应的就是DIR的状态
以上内容纯属个人编写offline的体验,本来想写所有测试项的,但是着手写的时候才发现,确实不好写还很废时间,只能写个OS的测试,来帮助那些迷茫的小白,或者刚入行的兄弟。