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功能简介
Test命令将两个操作数进行逻辑与运算,并根据运算结果设置相关的标志位。但是,Test命令的两个操作数不会被改变。运算结果在设置过相关标记位后会被丢弃。
TEST AX,BX
与AND AX,BX
命令有相同效果,只是Test指令不改变AX和BX的内容,而AND指令会把结果保存到AX中。
作用详细说明
将两个操作数进行按位AND,设结果是TEMP
- SF = 将结果的最高位赋给SF标志位,例如结果最高位是1,SF就是1
- 看TEMP是不是0,如果TEMP是0,ZF位置1;如果TEMP不是0,ZF位置0
- PF = 将TEMP的低8位,从第0位开始,逐位取同或。也就是第0位与第1位的同或结果,去和第2位同或,结果再去和第3位同或…直到和第7位同或。PF位是奇偶校验位,如果结果低8位中1的个数是偶数,PF=1;否则PF=0
- CF位置0
- OF位置0
应用举例
1.Test用来测试一个位,例如寄存器:
test eax,100b;b后缀意为二进制
jnz ******;如果eax右数第三个位为1,jnz将会跳转
jnz跳转的条件是ZF=0, ZF=0意味着ZF(零标志)没被置位,即逻辑与结果为1。
2.Test的一个非常普遍的用法是用来测试一方寄存器是否为空:
test ecx, ecx
jz somewhere
如果ecx为零,设置ZF零标志为1,jz跳转。