在页式虚存管理系统中,假定驻留集为m个页帧(初始所有页帧均为空)

本文探讨了在页式虚拟内存管理系统中,当驻留集大小为m,引用串长度为p,且包含n个不同页号(n>m)的情况下,FIFO和LRU页面置换算法的页故障数的上下限。分析指出,至少会发生n次故障,而最坏情况下的故障次数不超过p次。通过具体序列示例,证明了故障数下限为n,上限为p,并解释了为何两种算法在特定序列中会有相同表现。
摘要由CSDN通过智能技术生成

在页式虚存管理系统中,假定驻留集为m个页帧(初始所有页帧均为空),在长为p的引用串中具有n个不同的页号(n>m),对于FIFO,LRU两种页面置换算法,试给出页故障数的上限和下限,说明理由并举例说明

分析:很容易判断至少发生n次故障,因为有n个不同的页号嘛,不同的页号肯定会产生缺页异常

那么下限是不是真的是n呢,比如1,2,3,4,……n,n,n,n,n,n……n这样的序列,不管是FIFO还是LRU都只有n次故障

也很容易判断最多发生p次故障,因为引用串长度为p;那么上限到底是不是p呢

比如,1,2,3,…n,1,2,3,4……这样的序列,驻留集存满之后,再进来新的页面,都会进行页面的换入换出

且FIFO和LRU两种置换算法淘汰的都是同样的页面。所以上限是P,下限是n

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