激光雷达AEC-Q102车用光电器件测试认证标准解读

AEC,Automotive Electronics Council，汽车电子委员会，由美国三大汽车公司（Chrysler / Ford / GM）联合发起，并于1994年创立，会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。

AEC Q102，车用光电器件基于失效机制的应力测试资格，由AEC委员会制定，适用于车用光电器件的综合可靠性测试认证标准，是光电器件应用于汽车领域的基本门槛。

适用产品：LED、激光组件、激光元件、光电二极管、光电晶体管、发光二极管、光导管、光电池、光电三极管、热敏电阳、温差发电器、温差电致冷器。光敏电阻、红外光源、光电耦合器、发光数字管、使用光电功能和其他组件(例如带集成电路的LED、带光电二极管的激光组件.光耦)的多芯片模块。

AEC-Q102 标准定义了汽车电子所有内外使用的分立光电半导体元器件(目前主要是车用LED、激光器件、激光二极管、激光三极管、光电二极管/三极管、光电耦合器、OE-MCM（AEC-Q102-003）)的最低应力测试要求和测试条件，其每项测试都是针对车用光电器件所可能遭受的严酷环境来设计的，以保护行车时的安全性。

AEC-Q102测试流程

AEC Q102目前最新版本是2020年的A版，在原有测试项目的基础上稍微有些调整，如WHTOL1、WHTOL2，不再要求Tsolder焊点温度的管控（实践中比较困难），而是以Tambient温度为试验基准；增加了Board Flex板弯曲测试，补充了SMD器件结构强度的试验要求，该要求对于光电器件企业来说可能稍微陌生…

在AEC Q102标准中，基本原则是根据器件类型、封装形貌等特征，执行并通过必要的测试项目，可参考如下：

测试项目分类：

l各项参数测试：如光电性能测试、外观、参数验证、物理尺寸、热阻等

l环境应力实验：按照军用电子器件环境适应性标准和汽车电子通用环境适应性标准，执行器件的应力实验，如高温工作、高温反偏、高温高湿工作、高温高湿反偏、温度循环、功率温度循环、间歇工作寿命、低温工作寿命、脉冲工作、振动、冲击、气密性、凝露、硫化氢、混合气体等

l工艺质量评价：针对封装、后续电子组装工艺，以及使用可靠性进行的相应元器件工艺质量评价，如ESD、DPA、端子强度、耐焊接热、可焊性、绑线拉力剪切力、芯片推力、晶须生长等

AEC Q102 Rev A, April 6 2020

华碧实验室能力范围及AEC-Q102技术要求
序号	测试项目	缩写	测试方法
A组  加速环境应力试验
A1	预处理	PC	JEDEC JESD22-A113
A2a	高温湿工作寿命1	WHTOL1	JEDECJESD22-A101
A2b	高温湿工作寿命2	WHTOL2	JEDECJESD22-A101
A2c	高湿度高温反向偏压	H3TRB	JEDECJESD22-A101
A3a	功率温度循环	PTC	JEDECJESD22-A105
A3b	间歇使用寿命	IOL	MIL-STD-750-1 Method 1037
A4	温度循环	TC	JEDECJESD22-A104
B组  加速寿命应力试验
B1a	高温使用寿命1	HTOL1	JEDECJESD22-A108
B1b	高温使用寿命2	HTOL2	JEDECJESD22-A108
B1c	高温反向偏压	HTRB	JEDECJESD22-A108
B2	低温使用寿命	LTOL	JEDECJESD22-A108
B3	脉冲寿命	PLT	JEDECJESD22-A108
C组  封装组合完整性测试
C1	破坏性物理分析	DPA	Appendix 6
C2	物理尺寸	PD	JEDEC JESD22-B100
C3	邦线强度	WBP	MIL-STD-750-2 Method 2037
C4	邦线剪切	WBS	JESD22-B116
C5	芯片剪切	DS	MIL-STD-750-2 Method 2017
C6	端子强度	TS	MIL-STD-750-2 Method 2036
C7	凝露	DEW	AEC-Q102-001
C8	耐焊接热	RSH(-wave)	Leadcontaining devices per JESD22-B106Lead (Pb)-free devicesperAEC-Q005
C9	热阻	TR	JEDECJESD51-50 JESD51-51 JESD51-52
C10	可焊性	SD	JEDEC J-STD-002 or IEC 60068-2-58(SMD)IEC60068-2-20(Through hole)
C11	晶须生长	WG	AEC-Q005
C12	硫化氢	H2S	IEC 60068-2-43
C13	混合气流测试	FMG	IEC 60068-2- 60 Test method 4
C14	板弯曲	BF	AEC-Q102-002
E组  光电验证试验
E0	目检	EV	JEDEC JESD22-B101
E1	应力前后电气和光度试验	TEST	Section2.3.7&User specification orsupplier'sstandard specification
E2	参数验证	PV	IndividualAEC user specification
E3	静电放电特性HBM	HBM	ANSI/ESDA/JEDEC JS-001
E4	静电放电特性CDM	CDM	AEC-Q101-005
G组  空腔封装完整性测试
G1	恒定加速度	CA	MIL-STD-750-2Method 2006
G2	变频振动	VVF	JEDEC JESD22-B103 Condition 1
G3	机械冲击	MS	JEDEC JESD22-B110
G4	密封性	HER	JEDEC JESD22-A109

新部件可靠性试验标准流程

现有合格部件的评估流程