电子元器件如何检测和筛选

电子元器件的筛选中,要注意质量控制,统筹兼顾,科学选择,简化设计,合理运用元器件的性能参数,发挥电子元器件的功能作用。选择元器件做到统筹兼顾,按照利条件进行合理选择,简化电路设计提高可靠性,降额使用提高可靠性。

一、检查外观质量 

  这是简单可行的检验方法,能发现一些电子元器件的早期缺陷和采购过程中的损坏。在对电子元器件识别与检测进行时应按照如下操作进行: 

  1)要检查元器件的型号、规格、厂商、产地必须与设计要求相符合,外包装完好。 

  2)检查元器件的外观必须完好,表面没有无凹陷、划伤、裂纹等缺陷,外部如有涂层的元器件必须无脱落和擦伤。 

  3)元器件的电极引线要无压折和弯曲,镀层要完好光洁,无氧化锈蚀。

  4)元器件上的型号、规格标记要清晰、完整,色标位置、颜色要满足标准,应认真检查集成电路上的字符。 

  5)机械结构的元器件尺寸要合格、螺纹灵活、转动手感合适。 

  6)开关类元件操作灵活,手感良好;接插件松紧要适宜,接触良好。各种电子产品中的元器件均有自身特点,检查时要按各元器件的具体要求确定检查内容。

二、电气性能筛选 

  为保证电子产品稳定可靠,对上机的元器件进行筛选是一个重要环节。筛选时要按元器件使用要求,对电子元器件施加一种或多种应力使其缺陷暴露,排除早期失效。筛选试验及施加应力要在合适范围,使有缺陷元器件失效,质量好的元器件通过试验。

1、元器件效能曲线 

  电子元器件的效能曲线,即浴盆曲线,反映了元器件在使用中的失效规律。一般在元器件刚投入使用时,因元器件制造过程中原材料、设备、工艺等缺陷导致失效率较高。元器件使用一段时间后,元器件的失效率较低,即偶然失效期。过了正常使用期后,元器件进入老化失效期,即损耗失效期,该元器件时间工作寿命结束在老化失效期,元器件的失效率增高。 

2、电子元器件的筛选和老化 

  元器件的老化的筛选,应人为制造元器件早期工作条件,使元器件处在模拟的工作伏态下,把早期失效的产品在使用前剔除,提高产品的可靠性。   在生产过程中,筛选老化包括高温存储老化,高低温循环老化,高低温冲击老化和高温功率老化等。随着元器件生产水平的提高,要按不同产品要求,国家和企业标佳选择不同的老化筛选要求和工艺。对于可靠性要求极高的电子产品或设备中使用的典型元器件,需100%进行筛选,对要求不高的民品中使用的元器件,要采用抽样检测方式对一般的电子产品研制和制造中使用的元器件,应采用自然老化和简易电老化方式。

 3、参数性能检测 

  经外观检查及老化的电子元器件,要进行性能指标的测试,淘汰已失效的元器件。检测前,应对电子元器件检测中常见问题及解决方案有一个全面的了解。要求有多种通用或专门测试仪器,一般性的电子设计或电子设备中使用的元器件,应运用万用表等普通仪表检测。在使用万用表进行检测时,要注意万用表的使用要求,正确地使用。 

 1)一般的万用表有模拟指针式和数字式两种。前者可靠耐用、直观,读数不精确,分辨力低后者读数精确直观,输入阻杭高,使用维护的要求也较高。 

2)两种万用表使用时要求选择功能和插孔:指针式一般测大电流高电压时有专门插孔数字式在测200mA以上电流时用专用插孔,一些型号的万用表的电流挡均用专用插孔。 

  3)选择量程时要注意指针式万用表指示在约为满刻度的30%~35%65%~70%处误差较小。若被测量不好确定范围,要从最大量程逐步转换。

4)在使用万用表时,人体不可接触表笔的金属部分,确保测量准确和人身安全。

5)测量高电压或大电流时,不可在测量中换档,要换挡时要断开表笔,选好量程后接上表笔实施测量,不然会损坏万用表。 

 6)测量二极管与整流器、三极管、铝电解电容器等有极性元器件,要注意表笔极性。在电阻挡,指针式万用表的红表笔接万用表内部电源的负极,黑表笔接内部电源的正极数字式万用表的红表笔接万用表内部电源的正极,黑表笔接内部电源的负极。 

 在万用表不能满足测试要求时,应选择使用LRC手持电桥测量电阻、电容和电感及品质因数等参数,要选用合式多用表测量电压电流、电阻、频率等参数。选用手持电桥和台式多用表进行相关参数的测量,测试精度比万用表高,还在万用表不具备的测量功能。

以上是电子元器件的筛选和检测的方法。为了减少筛选和检测的工作量,购买一家品质有保障的电子元器件就显得尤为重要
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电子元器件的质量等级是指在制造和使用过程中,根据其可靠性、品质和适用性等方面的特点进行分类和评定的标准。质量等级的评定对于确保电子元器件的性能和可靠性至关重要。 在电子元器件的质量等级中,常见的一个评定标准是CSDN(Component Stress Derating and Non-Destruction testing)。CSDN的目的是根据元器件本身的特征和工作环境的要求,确定元器件在应力较高环境下的可靠性,以及确定可靠的工作范围。 CSDN标准主要包括以下几个方面的评定: 1. 元器件压力降级(Stress Derating):根据元器件的结构特性和工作环境的条件,降低元器件的工作参数,以确保元器件在工作中不会超出其能力范围。 2. 元器件可靠性评定(Reliability Assessment):评估元器件在不同工作条件下的寿命和可靠性,包括温度、湿度、振动等环境因素的考虑。 3. 元器件非破坏性测试(Non-Destruction Testing):通过一系列的非破坏性测试,如X射线检测、冲击试验等,来检验元器件的可靠性和稳定性。 通过CSDN等级评定,可以对电子元器件进行分类和筛选,确保选用的元器件符合要求,并能在各种工作条件下保持其性能和可靠性。这对于电子产品的设计、制造和使用来说都至关重要,能够提高产品的质量和可靠性,降低故障率,保证产品的长期稳定工作。因此,CSDN标准对于电子元器件的质量控制和产品性能的确保具有重要的意义。

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