测试U盘/硬盘读写速度

本文介绍了在Windows和Linux系统下,使用CrystalDiskMark和dd命令分别进行USB3.0的读写速度测试。在Windows上使用CrystalDiskMark,而在Linux上通过dd命令,分别展示了写入和读取500MB数据时的性能,并详细列出了运行时的系统资源使用情况,包括真实时间、用户态时间和内核态时间。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

 

 

 

1. on windows

tool: CrystalDiskMark

wevsite:  https://crystalmark.info/en/software/crystaldiskmark/

CrystalDiskMark is a simple disk benchmark software.

 

usb3.0 test:

 

 

 

2. on linux

tool: dd

2.1 write

 

time dd if=/dev/zero of=./largefile bs=10k count=100000 //1GB

 

test usb3.0 write, 500M

# time dd if=/dev/zero of=./largefile bs=10k count=50000

50000+0 records in

50000+0 records out

real    0m 21.21s

user    0m 0.04s

sys    0m 3.57s

 

2.2 read

sh -c "sync && echo 3 > /proc/sys/vm/drop_caches"  //clear cache

time dd if=./largefile of=/dev/null bs=4k

 

tes usb3.0 read, 500M

# time dd if=./largefile of=/dev/null bs=4k

125000+0 records in

125000+0 records out

real    0m 4.07s

user    0m 0.08s

sys    0m 1.49s

 

2.3 time

一个程序在运行时使用的系统资源通常包括CPU、内存和I/O等;

CPU资源的统计包括实际使用时间(real time)、用户态使用时间(the process spent in user mode)、内核态使用时间(the process spent in kernel mode)。

 

# time dd if=/dev/zero of=./largefile1 bs=5k count=100000

100000+0 records in

100000+0 records out

real    0m 57.32s

user    0m 0.27s

sys    0m 10.74s

 

 

第一款真正意义上的U扩容检测工具 集5大功能于一身:扩容检测、坏块扫描、速度测试、老化测试、坏块屏蔽 MyDiskTest是一款U/SD卡/CF卡等移动存储产品扩容识别工具。可以方便的检测出存储产品是否经过扩充容量,以次充好。 还可以检测FLASH闪存是否有坏块,是否采用黑片,不破坏磁原有数据。 并可以测试U的读取和写入速度,对存储产品进行老化试验。是你挑选U和存储卡必备的工具。 ----------------------------------- 更新: V2.50 1、新增了功能强大的速度测试模块,是您选购和评测U、SD卡、CF卡、移动硬盘最为理想和专业的工具 V2.42 1、修正了“坏块软屏蔽”大于2GB的发生内存溢出的问题 2、修正了测试某些黑片显示可用空间小于0的情况 3、修正了用快速扩容测试某些黑片发生下标越界错误 V2.40 1、主要改进了容量测试算法和界面 V2.33 1、改进了扫描过程异常出现“严重I/O错误” 2、改进了进度条显示方式,可看出坏块的位置 3、文件读写操作测试增加了速度数值显示,结果更直观准确 v2.30 1、修正了一个快速测试扩容的问题 2、改进了为i5128方案时检测的bug V2.20 1、继续改进速度测试模块 V2.10 1、增加一种坏块检测算法(未选检测黑片时为快速测扩容),可满足大量检测的需要 2、增加文件操作速度测试模块,检测出的结果更帖近实际操作 V2.00 1、增加英文语言界面,并可根据操作系统自动识别 2、增加屏蔽FLASH坏块功能,使数据存储更安全 注意:使用此功能后格式化磁会使屏蔽功能失效 V1.80 1、加强了速度测试功能,在选购存储产品时更加实用 2、修正了当U没有一个好区块时显示为1M的bug V1.70 1、增加了对量产成本地磁的U的支持 2、增加对量产为USB HDD的U的识别能力 3、修正了一个可能造成非法操作的问题 4、排除了对USB光驱的检测,因为不可写 V1.60 1、修正了测试出错的处理,当测试是可能导致数据损坏的情况给出提示。 2、加入了进行稳定性(老化)测试时可以选择测试的次数。 V1.50 1、增加了稳定性(老化)测试功能,助你挑选质量上乘的U/存储卡 2、增加了显示设备名称功能 3、修正了一个可能导致内存溢出非法操作的bug 4、优化了程序代码 V1.45 1.改进了快速扫描方式的算法,扫描结果更准确(代价是比原来稍慢) 2.增加了自动感应USB设备插拔,不必每次换设备都手动刷新(注意!测试中一定不要插拔被测设备,以免数据丢失!且测试过程中不响应其他设备的插拔动作。) V1.40 优化了磁坏块扫描算法 V1.30 改进了无法检测大于2G容量问题,改进检测算法 ----------------------------------- 反馈:http://www.mydigit.net/read.php?tid-22095.html ----------------------------------- 声明: 在检测前请自行备份U/SD卡内的文件资料,以防数据丢失。
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