检查TE是否正常开启,如果是工版,则可使用如下方式打开fps的log,查看TE信息:
adb shell
cd sys/kernel/debug
echo fps:on>mtkfb
然后查看mtklog,搜索“FPS”,若看到等待TE时间为0, 表示TE未正常开启,需要与LCM IC的FAE进一步确认开启流程 。
若TE已经成功开启,依然有Teering现象,可从如下方面思考分析。
1)是否使用了竖屏横用,导致对GRAM的读写方向不一致,一般会出现斜线切屏现象。
2)是否clock速度过低,FPS低于LCM自刷新率的1/2?
3)是否clock速率过快,超过LCM的自刷新率,导致写GRAM时可能从后面赶上读,导致Teering发生。