android factorymode下回路测试无声音问题解析

在Android工厂模式下进行回路测试时遇到一个问题:首次测试能听到声音,但后续测试则无声。问题源代码位于`mediatek/factory/src/test/ftm_audio.cpp`和`ftm_audio_Common.cpp`。测试流程包括音频初始化、选择MIC、监控用户操作和创建检测线程。关键在于`Audio_Headset_detect_thread`线程中的耳机状态检测。问题解决在于寄存器AFE_DL_SRC2_1的bit4:3被错误设置为1,导致输出被mute。修复方法是在判断耳机插入前重新配置该寄存器。
摘要由CSDN通过智能技术生成

一、            问题描述

进入factory mode后在进行回路测试项时,第一次测试可以听到声音,但之后再进行测试时无法听到声音。

二、            factory回路测试项代码流程

主要涉及代码为:

mediatek/factory/src/test/ftm_audio.cpp

mediatek/factory/src/test/ftm_audio_Common.cpp

1.    audio_init

在init函数中主要是分配内存空间和注册功能函数

回路测试项目使用的的主要函数是mAudio_reveiverloopback_entry

2.    mAudio_reveiverloopback_entry

在这个接口中主要有4个功能

(1)      输出显示信息

staticitem_taudio_items_loopback[]= {

#ifdefMTK_DUAL_MIC_SUPPORT

    {ITEM_MIC1,uistr_info_audio_loopback_dualmic_mi1, 0},//选择MIC1

    {ITEM_MIC2,uistr_info_audio_loopback_dualmic_mi2, 0},//选择MIC2

#endif

    {ITEM_PASS, uistr_pass, 0},//测试通过

    {ITEM_FAIL, uistr_fail, 0},//测试失败

    {-1, NULL, 0},

};

(2)      初始化audio和headset

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