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RSS订阅转载 软件测试缺陷分析方法简介
ODC分析法 ODC（正交缺陷分类）分析方法最早由IBM的waston中心推出，是将一个缺陷在生命周期的各环节的属性组织起来，从单维度、多维度来对缺陷进行分析，从不同角度得到各类缺陷的缺陷密度和缺陷比率，从而积累得到各类缺陷的基线值，用于评估测试活动，指导测试改进和整个研发流程的改进；同时根据各阶段缺陷分布得到缺陷去除过程特征模型，用于对测试活动进行评估和预测。 无
2014-07-02 15:33:40
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空空如也
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