(一)
半导体存储器原理实验
一、
实验目的与要求
目的:1、掌握静态存储器的工作特性及使用方法。
2、掌握半导体随机存储器怎样存储和读出数据。
要求:实验前,要求做好实验预习,掌握616型RAM存储器的功能特性和使用方法。
实验过程中,要认真进行实验操作和思考实验有关的内容,把自己不太明白的问题通过实验去理解清楚,争取得到最好的实验结果,达到预期的实验教学目的。
二、
实验方案
1. 使用了一片6116静态RAM(2048×8位),但地址端A8~A10脚接地,因此实际上存储容量为256字节。存储器的数据线D7~D0接至数据总线。
2. 使用一片8位的74LS273作为地址寄存器(AR),地址寄存器的输出端接存储器6116的地址线A7~A0,所以存储单元的地址由地址存储器AR提供。
3. 数据开关(INPUT
DEVICE)用来设置地址和数据,它经过一个三态门74LS245与数据总线相连,分别给出地址和数据。
4. 地址显示灯A
D7~AD0与6116地址线相连,用来显示存储单元的地址,数据总线上的显示灯B7~B0用来显示写入存储单元的数据或从存储单元读出的数据。
5. 存储器有三个控制信号:CE片选信号、OE读命令信号、WE写信号。当片选信号CE=0时,RAM被选中,可以进行读/写操作;当CE=1时,RAM未被选中,不能进行读/写操作。读命令信号OE在本实验中已固定接地,在此情况下,当CE=0