ARM JTAG SWD SWO SWV

 

JTAG - Joint Test Action Group

JTAG(Joint Test Action Group)联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容）
Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。通常所说的JTAG大致分两类，

一类用于测试芯片的电气特性，检测芯片是否有问题；
一类用于Debug；一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。

一个含有JTAG Debug接口模块的CPU，只要时钟正常，就可以通过JTAG接口访问CPU的内部寄存器和挂在CPU总线上的设备

标准的JTAG接口是4线：TMS、 TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 

 

ARM系统的JTAG接口

 

 接口是一个20脚的IDC插座。下表给出了具体的信号说明

序号	信号名	方向	说 明
1	Vref	Input	接口电平参考电压，通常可直接接电源
2	Vsupply	Input	电源
3	nTRST	Output	(可选项) JTAG复位。在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。
4	GND	--	接地
5	TDI	Output	Test Data In from Dragon-ICE to target.
6	GND	--	接地