故障树分析 - 事件概率模型

英文标题： Fault Tree Analysis - Event Data Model

故障树分析最关键的一步就是为基本事件设置概率失效模型。

电子器件的物理失效的概率模型一般符合指数分布，比如电阻的短路、开路。指数分布又细分为恒定失效率指数分布和周期性检测的潜在故障。

如果故障不能被用户感知到，也不能被检测机制及时地检测到，那么它就是一个潜在的故障。这个故障会一直潜伏着，直到特定条件下才会暴露出来（比如维保检修）。对于潜在故障，应该使用周期性检测的潜在故障模型。

表1 恒定失效率指数分布和周期性检测的潜在故障的比较

故障感知/故障检测	可被用户感知	不可被用户感知
能被检测机制及时检测到	恒定失效率指数分布	恒定失效率指数分布
不能被检测机制及时检测到，或没有检测机制	恒定失效率指数分布	周期性检测的潜在故障

单点故障不可能时潜在故障。因为单点故障会直接导致顶事件失效，一旦失效可以被用户感知到。

不能在FTTI内被检测到的多点故障应该用周期性检测的潜在模型。

恒定失效率指数分布

对于满足恒定失效率指数分布的元器件，其不可用度和失效频率可用下面的公式计算。

\[ Q(t) = 1 -