最新linux伺服控制,應用於LINUX系統之工業用乙太網路伺服控制

摘要：

數位全像顯微術擁有高解析及快速量測的特性,在離軸全像下還可達到one-shot之目的,因此對於環境震動的敏感度較低,適合用於生產線上的檢測.以往數位全像顯微術對於表面高度大於量測波長時,重建後則會產生相位混淆的現象.本研究將以極化多彩光源作照明,並在one-shot下改善重建後之相位混淆. 本文以R,G,B雷射為照明光源,並對各波長施予不同極化方向,以減少多波長同時照明之干擾.光路上採用麥克詹達(Mach-Zender)方式架設,並對參考光施予離軸角.影像紀錄方面則是以彩色CCD做為紀錄工具,如此便能在單張攝像擷取三波長產生的全像片.數位全像片是以數值模擬參考光並以Fresnel繞射方式將物光解出.最後將不同波長重建後的振幅對比疊合成為彩色重建影像,而各波長之相位對比再次經由計算解決相位混淆. 極化多彩數位全像顯微鏡在單次拍攝能重建出15.395um高度而無相位混淆的發生,相較於以單波長(He-Ne雷射)之數位全像顯微術,待測物若高於632.8nm則將產生相位混淆.因此極化多彩數位全像顯微鏡將能彌補數位全像顯微術之缺點(相位混淆),並同時擁有其快速量測之優點.

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