四、分区式测光　

 

　　从前面的讨论可知，对于加权式测光，当画面边缘亮度较高时，由于加权系数比较小，故无法在最终测光值中反应出画面反差大这一事实，在逆光、反差大等场合有严重的局限性，因此分区式测光方式就应运而生。　

 

分区式测光又称多幅面测光、多模式测光或区域分割式测光。主要原理是将画面分成几个区，先测取每个区的亮度，然后经过综合计算，选择相应的测光方式，给出一个能兼顾各区的曝光值。从理论上讲，分区式测光方式都具有自动逆光补偿能力。分区式测光方式中一个区的测光灵敏度分布与中央重点加权平均测光方式的分布很相似，因此中央重点加权平均测光也可称为“单区测光”方式。

 

现代相机分区测光的精度越来越高，分区数量也越来越多。相机对各区同时测光后，由计量中央处理器进行综合计算，判断出主体的实际位置和大小，得出最佳的曝光值。是测光精度比较高并在实践中较常用的方式。尽管各厂家对分区测光的名称不同，但是测光原理基本相同。尼康称为“矩阵测光”，佳能称为“评价测光”，美能达（索尼）称为“蜂巢式测光”。

 

 



图四 各家的分区测光

 

　　分区式测光方式有多种形式，分区的数量也不同，有双区、三区、五区、六区、八区、十四区、十六区、二十一区、三十五区、六十三区等。

 

 



图五 佳能 21分区测光

 

 



图六 佳能 16分区测光

 

 



图七 佳能 35分区测光

 

 



图八 佳能 63分区测光器件

 

　　1、矩阵式测光(Matrix Metering)：　

 

　　这是最早出现的分区式测光方式，由尼康公司首创，最早用于1983年出品的尼康FA单反机上，叫做AMP(Automatic Multi Pattern，自动多分区)测光系统，专利注册商标为”矩阵式测光方式”。经过多年考验， 事实证明了这种测光方式实用、准确和使用方便，现代尼康各款单反数码相机的矩阵测光，都是在这一基础上的改进。

 

矩阵式测光方式的测光元件是装在五棱镜后面，共采用了两只三段测光元件，组合成5个段，将聚焦屏上的画面分成5个区域。

 

　　矩阵式测光方式的工作原理是经过对大量的照片进行分析(F4和F-801用的数据超过24000个)，可以将所测量到的光的特性分成5个亮度值和5个反差值，并按横向和纵向排列，这样就形成了数学上的5X5矩阵(这就是这种测光方式名称的由来)。当5段SPD(Silicon Photo Dioxide 硅光电二极管)对各区域同时测光后，将各自的测光结果输入到机身内的计算电路，对画面中的高亮度和低暗度值进行截断处理 (高亮度物体，如太阳、天空等，在一般摄影中是不会作为被摄主体的；而低亮度的测光信号，由于电平过低，难以与杂光干扰信号相区别，从而失去了有用亮度信息的可靠性)。经过截断处理后，运算出4个测光值：中央测光值BV、高亮度中央测光值BH、平均测光值BM和低亮度中央测光值BL。然后根据这个5X5矩阵中确定从这4个测光值中选择一个作为最终测光值。　

 

例如画面的景物的亮度是中间值、反差较小，从上述5X5矩阵中可判断为是拍摄室外一般的风景与人物照，此时应选择BV作为曝光依据；若亮度值稍高、反差值较大，应选择BL作为曝光值，其目的是保留暗部细节。　

 

矩阵式测光方式对景物亮度很高的场合，把曝光值控制在低于EV16.33(ISO 100)，从而使拍摄雪景时，可得到白色而不是灰色的效果；还有对低亮度的信号控制在高于EV1，以利于夜景等拍摄。

 

 



图九 6区矩阵式测光

 

　　另外，一些尼康相机上还设有可以检测纵向拍摄的传感器，所以当相机处于纵向位置时，矩阵分区作相应的修改。　

 

　2、佳能分区式综合测光(Evaluative Metering)：　

 

　　这种方式的分区类似于尼康矩阵式测光方式。首次见于佳能EOS650上。其特点是将整个画面分成六个区域。其工作原理与矩阵式测光方式类似，将六个区的测光值输入机内CPU进行分析和决定曝光量，分析的基础是记忆在机内的大量数据，而这些数据则是研究了数以千计的典型照片而得出的。在EOS 650/620上，采用了一种所谓的"标准"程序，在EOS 630以后， 则采用了新算法。六分区综合测光方式也是目前最好的测光系统之一。佳能后来在其基础上改进成八分区综合测光方式，用于EOS 10上，以配合其先进的三个AF区域的AF系统。于1992年佳能对此再做改进，变成十六分区， 以配合EOS 5的五个AF区域的AF系统，可以随聚焦点的不同而调整曝光量。现代佳能数码单反相机的分区测光都是在此基础上的改进。

 

　　3、美能达分区测光：　

 

　　最早见于 Dynax 7000i上，其特点是将画面分成六个区域，但其中五个区域都集中在中央部分，约占总画面的20％，这样能与AF系统更密切地配合使用。由于Dynax 7000i 上有三组测距组件来对被摄体进行测距，因此可以在当被摄体不在画面中央时进行自动聚焦，由于各分区均与AF系统的测距组件相贯通，测光系统会做出相应的调整。即根据被摄主体的位置信息，选择中央五个测光区的重点；与此同时，四周的测光区测量背景亮度，并算出主体亮度和背景亮度的亮度差，判断出是否为逆光。当中央与四周的亮度差大时，就改成对应区域单区测光；亮度差小时，则改成中央重点加权平均测光。

 

　　由于被摄体几乎集中在画面中部，所以六个分区都要加以考虑，其测光灵敏度分布类似于中央重点加权平均测光；与对焦点联动，当被摄体偏向于左边，测光灵敏度的分布随之调整。因此，Dynax 7000i上的这种测光方式具有根据主体位置来调整测光灵敏度的优点， 所以称为"智能化测光系统"，它是美能达"专家智能化"蜂巢式测光系统的前身。但由于背景只用一段测光元件测光，无法区分天空和地面的测光值，所以当天空很明亮而地面很暗时，有可能出现测光偏差。　

 

　　美能达在测光方面的技术积累被应用于数码相机，并被索尼所继承。

 

　4、奥林巴斯ESP方式：　

 

　　这种方式最早见于OM-40上，全称为(Electro Selective Pat-tern，电子选择分区)测光方式。ESP实际上是一种两分区测光方式，将画面全体分成中央和周围两个部分，中央部分约占总画面的25%，以每秒10次的频率对这两个区域进行测光，从平均值、中央重点加权平均测光、点测光和低亮度点测光种方式中，选择一种作为相机的测光方式。可以解决逆光或暗背景等复杂环境的正确测光问题。当画面中央的亮度与其他部分的测光值相差太大时，测光系统会作出相应的调整，给出以中央区域为主的曝光组合。奥林巴斯将 ESP测光方式用于以后的很多相机中，只要配有点测光和中央重点加权平均测光方式的相机，大多数是按ESP来测光工作的。实际上是两种测光方式都在同时工作，只要两个测光值相差太大，表明被摄主体处于逆光位置，因此相机不是调整曝光值，就是启动相机的内置闪光灯进行填充式闪光补光。

 

　　ESP 分区方式将分区测光简化，有利于降低生产成本，所以成为以后一些普及型AF单反机较多采用的测光方式，如美能达的Dynax 3000i和Dynax 5000i、潘太克斯SF7等。 

 

　　5、宾得分区测光：　

 

　　最早见于Z-10上，为六分区，其工作原理与佳能的六分区综合测光方式类似，由于背景只用一段测光元件测光，所以具有与美能达分区测光同样的毛病。　

 

后在Z-1又改进为八分区，将背景部分分成三个区，上半部背景用一段测光元件，下半部背景则用两段测光元件，解决了Z-10六分区的问题。八分区测光所用算法对暗处加以优先考虑。在正常照明条件下，同时还考虑了中央部位以外的四周部分的阴暗区。在逆光时，只测量中央部分，并假设主体在中央，并加以自动补偿，补偿量取决于由AF系统测量到的拍摄距离。当亮度高于EV16(极亮的物体)操还要多增加一些曝光量，使亮物体仍为亮物体。

 

五、局部测光　

 

　　这是佳能公司首创、属点测光方式的改进方式。其特点是测光范围比点测光要大些，如在佳能EOS-1上为总画面的5.8%(点测光为2.3%)；在 EOS 650上为6.5%；在EOS 10上为8.5%。　

 

　　局部测光是中央重点加权平均测光和点测光方式的折衷方式。中央重点加权平均测光方式易于使用，但在照明条件奇特的场合下无能为力；而点测光方式能准确地控制曝光量，但难以使用，要经验比较丰富后才能发挥效用。局部测光方式则处于二者之间。如在拍摄一幅半身肖像时，如果背景光很亮，而且人脸上的亮度又不均匀，若用中央重点加权平均测光方式给出的测光值来曝光，有可能使人脸曝光不足；而使用点测光时，额头的读数与下巴的读数可能会有差别，只有经验丰富时才能知道该测取哪一部分的读数。采用局部测光方式，因测光区域较点测光大，所以能兼顾人脸上的各部分的曝光。　

 

 



图十 局部测光灵敏度分布图